公开(公告)号：CN112762825B

公开(公告)日：2022-02-22

申请号：CN202011555498.X

申请日：2020-12-24

Applicant: 复旦大学

Inventor： 王威 ,  潘望白 ,  吴松 ,  胡迪科 ,  唐国安

IPC: G01B11/00

Abstract: 本发明属于摄影测量领域。本发明提供了一种表征摄影测量系统三维坐标重构误差的矩阵谱半径方法，包括以下步骤：步骤1，定义双目摄影测量系统中的多个坐标系，并得出利用靶标的像素坐标重构三维空间坐标的坐标重构关系式；步骤2，计算在重构过程中靶标的像素坐标误差向三维空间坐标误差传递的度量矩阵，并通过度量矩阵的谱半径表征摄影测量系统三维坐标重构误差。本发明的方法通过计算得到度量矩阵谱半径并将其作为关键量化指标，关注坐标重构过程的误差传递关系，而不依赖摄影测量系统像素坐标测量提取误差的估计，更符合系统布局和构型的参数设计要求。

公开(公告)号：CN112762825A

公开(公告)日：2021-05-07

申请号：CN202011555498.X

申请日：2020-12-24

Applicant: 复旦大学

Inventor： 王威 ,  潘望白 ,  吴松 ,  胡迪科 ,  唐国安

IPC: G01B11/00

Abstract: 本发明属于摄影测量领域。本发明提供了一种表征摄影测量系统三维坐标重构误差的矩阵谱半径方法，包括以下步骤：步骤1，定义双目摄影测量系统中的多个坐标系，并得出利用靶标的像素坐标重构三维空间坐标的坐标重构关系式；步骤2，计算在重构过程中靶标的像素坐标误差向三维空间坐标误差传递的度量矩阵，并通过度量矩阵的谱半径表征摄影测量系统三维坐标重构误差。本发明的方法通过计算得到度量矩阵谱半径并将其作为关键量化指标，关注坐标重构过程的误差传递关系，而不依赖摄影测量系统像素坐标测量提取误差的估计，更符合系统布局和构型的参数设计要求。