用于温度检测的纳米探针及制备和用途、检测温度的方法

    公开(公告)号:CN118853169A

    公开(公告)日:2024-10-29

    申请号:CN202410844401.9

    申请日:2024-06-26

    Applicant: 复旦大学

    Inventor: 冯玮 柯佳铭

    Abstract: 本发明公开了一种用于温度检测的纳米探针,包括具有内核和壳层的纳米颗粒,壳层包覆所述内核,内核的成分为掺杂Ho3+的NaYbF4,Ho3+的掺杂量为0.5%‑10%,壳层的成分为NaREF4或者CaF2,其中,RE为Y、La、Gd、Lu中的一种或多种。此种探针激发光和发射光都位于近红外二区,有效降低背景信号的干扰,提高成像信噪比,增大穿透深度。在上述结构体系中,Ho离子的发光寿命随温度升高而增大,发光寿命较长,并且灵敏度也随着温度升高增强,该纳米探针在高温条件下仍能保持高效的性能,同时,对于检测仪器的要求较低,降低了实际应用中的经济负担。本发明还公开了该纳米探针的制备方法和用途,以及一种温度检测方法。

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