一种宽光谱太阳能吸收增强器件及其制备方法

    公开(公告)号:CN115451594B

    公开(公告)日:2024-05-28

    申请号:CN202211118412.6

    申请日:2022-09-13

    Abstract: 本发明公开了一种宽光谱太阳能吸收增强器件及其制备方法;所述太阳能吸收增强器件包括吸光基体、致密干涉多层膜层、渐变折射率膜层以及保护膜层;其中,致密干涉多层膜用于调控宽光谱的干涉效应以增强光谱吸收率;渐变折射率膜与致密干涉多层膜协同作用,最小化反射率;制备方法为:以吸光功能器件或基材作为基底,以薄膜材料色散曲线为基础进行光学薄膜设计;采用薄膜沉积设备在吸光基体上依次制作出致密干涉多层膜、渐变折射率膜和保护膜。本发明的薄膜结构可使器件及空气折射率相匹配从而消除基底表面引起的反射,实现宽光谱高效吸收,制备工艺简单,工业兼容性强,制作成本低,易于实现批量生产,在太阳能吸收利用领域有较高应用潜力。

    一种宽光谱太阳能吸收增强器件及其制备方法

    公开(公告)号:CN115451594A

    公开(公告)日:2022-12-09

    申请号:CN202211118412.6

    申请日:2022-09-13

    Abstract: 本发明公开了一种宽光谱太阳能吸收增强器件及其制备方法;所述太阳能吸收增强器件包括吸光基体、致密干涉多层膜层、渐变折射率膜层以及保护膜层;其中,致密干涉多层膜用于调控宽光谱的干涉效应以增强光谱吸收率;渐变折射率膜与致密干涉多层膜协同作用,最小化反射率;制备方法为:以吸光功能器件或基材作为基底,以薄膜材料色散曲线为基础进行光学薄膜设计;采用薄膜沉积设备在吸光基体上依次制作出致密干涉多层膜、渐变折射率膜和保护膜。本发明的薄膜结构可使器件及空气折射率相匹配从而消除基底表面引起的反射,实现宽光谱高效吸收,制备工艺简单,工业兼容性强,制作成本低,易于实现批量生产,在太阳能吸收利用领域有较高应用潜力。

    一种基于色品坐标测量获得薄膜厚度的方法

    公开(公告)号:CN115371570A

    公开(公告)日:2022-11-22

    申请号:CN202210926140.6

    申请日:2022-08-03

    Abstract: 本发明公开了一种基于色品坐标测量获得薄膜厚度的方法。本发明采用光纤导光、光栅以及面阵列探测模式,获取样品的光谱信号,根据反射谱与色品坐标的换算关系,计算出待测样品的色品坐标。通过理论计算获得薄膜的色品坐标与厚度的完整映射关系,对比实测色品坐标与理论映射关系中的色品坐标,可以准确获得薄膜样品的厚度信息。本发明克服了传统光谱测色方式在测量过程中需要旋转光栅或者棱镜进行波长扫描的缺点,实现单次全谱测量,缩短了测量所需的时间。同时,相较传统测量时的波长间隔,本发明采用更密集的光谱获取,从而更加准确的获取色度信息,基于此快速准确地获得了纳米薄膜的厚度信息。

    一种具有折射率渐变结构的辐射冷却薄膜材料及其制备方法

    公开(公告)号:CN119751936A

    公开(公告)日:2025-04-04

    申请号:CN202411892527.X

    申请日:2024-12-20

    Abstract: 本发明公开了一种具有折射率渐变结构的辐射冷却薄膜材料及其制备方法;该方法包括:将多孔材料与紫外固化光学胶充分混合,得到分散液;将分散液涂覆在衬底上;通过紫外灯照射方法固化分散液得到辐射冷却薄膜。本发明制得的辐射冷却薄膜在晴天时可以将户外物体的热量通过大气窗口辐射到宇宙空间中;其具有一种折射率渐变结构,有利于将目标物体内部热量以红外线方式向外辐射,大大提高辐射冷却的功率,使目标物体的降温幅度增加;可实现在太阳波段(300‑2500 nm)的反射率≥85%,红外波段(8‑13μm)的发射率≥92%;本发明制备方法简单,成本低,易于实现拓宽辐射冷却应用的范围。

    一种高品质因子混合型金属-电介质等离子体共振光学滤波器

    公开(公告)号:CN119511434A

    公开(公告)日:2025-02-25

    申请号:CN202411604787.2

    申请日:2024-11-12

    Abstract: 本发明公开了一种高品质因子混合型金属‑电介质等离子体共振光学滤波器;其包括衬底层,以及向上依次叠加的高折射率电介质层、低折射率电介质层和金属光栅层;所述衬底层为低折射率透明电介质材料,所述高折射率电介质层的材料的折射率大于低折射率电介质层的材料、衬底材料的折射率;所述金属光栅层为具有周期性排列的光栅结构,在一个器件周期内包括三根金属条,中间金属条的宽度大于旁边两个金属条的宽度,通过调节中间金属条的宽度调节耦合模式的辐射损耗进而调节滤波器的品质因子。本发明具有结构简单、品质因子高,与传统的集成电路制备工艺相兼容等优点,在光通讯,高光谱和多光谱成像以及传感等领域有广泛的应用。

    一种具有低偏振依赖特性的宽光谱增透膜及其制备方法

    公开(公告)号:CN117075232A

    公开(公告)日:2023-11-17

    申请号:CN202310862454.9

    申请日:2023-07-14

    Abstract: 本发明公开了一种具有低偏振依赖特性的宽光谱增透膜及其制备方法;所述宽光谱增透膜包括石英基底、致密干涉多层膜层和超低折射率膜层;其中,致密干涉多层膜用于调控宽光谱的干涉效应以增强光谱透过率;超低折射率膜与致密干涉多层膜协同作用,最小化反射率;制备方法为:以透过率比较高的材料作为基底,以薄膜材料色散曲线为基础进行光学薄膜设计;采用薄膜沉积设备在基底上依次制作出致密干涉多层膜和超低折射率膜。本发明的薄膜结构的优点在于可实现薄膜宽光谱高增透和低偏振依赖的特性。且薄膜制备工艺简单,工业兼容性强,制作成本低,易于实现批量生产,在光学系统和光学器件制备等方面有较高应用潜力。

    一种高环境可靠性宽带红外薄膜偏振器

    公开(公告)号:CN117666003A

    公开(公告)日:2024-03-08

    申请号:CN202410040584.9

    申请日:2024-01-11

    Abstract: 本发明属于光学薄膜技术领域,具体为一种高环境可靠性宽带红外薄膜偏振器。该薄膜偏振器包括光学基片、偏振分光膜层和增透膜层。偏振分光膜层由光学基片一侧依次镀制的第一导纳匹配膜堆、对称周期膜堆和第二导纳匹配膜堆构成。该偏振器通过在高折射率膜层与低折射率膜层之间插入中折射率膜层,实现偏振器宽偏振区域和高环境可靠性。在功能设计上,对称周期膜堆用于将入射光束的偏振态进行分离,第一、第二导纳匹配膜堆用于将光学基片、入射介质与对称周期膜堆等效导纳进行匹配。本发明薄膜偏振器具有宽偏振区域,宽角度适用,高消光比以及高环境可靠性等特点。

    一种超薄宽带光学吸收器
    8.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116990891A

    公开(公告)日:2023-11-03

    申请号:CN202311035022.7

    申请日:2023-08-16

    Abstract: 本发明涉及一种光学吸收器,包括:衬底、位于衬底上的金属反射层、位于金属反射层上的透明电介质层和位于透明电介质层上的光吸收层,其中,所述光吸收层的材料为二硒化铂。根据本发明的光学吸收器在正入射的可见光‑近红外波段范围内的平均吸收率>95%,而入射光为p偏振或s偏振、入射角度为在0°至70°的范围内时,平均吸收率>70%,在可见光‑近红外波段展现出宽光谱、大入射角和偏振不敏感的近完美吸收效果。并且,光吸收层的厚度较薄,器件整体厚度不超过200nm,有利于器件的集成化,无额外的减反层或超材料结构即可达到阻抗匹配,具有制备条件简单、成本低等优势,具有大面积制备的实用价值。

    一种纳米材料燃点测量方法及测量系统

    公开(公告)号:CN111693561A

    公开(公告)日:2020-09-22

    申请号:CN202010471013.2

    申请日:2020-05-28

    Applicant: 复旦大学

    Abstract: 本发明涉及一种纳米材料燃点测量方法及测量系统,所述测量方法包括以下步骤:1)利用变温椭圆偏振光谱仪在单波长和单角度下测量不同温度下纳米材料的P光、S光的复反射率比值ρ,进而获得两个椭偏参数ψ与Δ;2)基于步骤1)获得椭偏参数ψ、Δ随温度的变化谱;3)基于所述变化谱上的突变点确定纳米材料的相变点;4)根据每一所述相变点前后物质的变化情况,判断所述相变点是否为燃点,从而测量获得纳米材料的最终燃点。与现有技术相比,本发明具有无接触、快速、可靠性高等优点。

    一种消慧差宽带高分辨光谱仪

    公开(公告)号:CN110926613A

    公开(公告)日:2020-03-27

    申请号:CN201911310162.4

    申请日:2019-12-18

    Applicant: 复旦大学

    Abstract: 本发明公开一种消慧差宽带高分辨光谱仪,包括入射狭缝、准直反射镜、集成光栅、二维聚焦成像镜和二维面阵探测器;入射光沿入射狭缝入射,并穿过集成光栅中心的通光孔,入射到准直反射镜上,入射光经准直反射镜准直后沿同轴光路L1入射到集成光栅,经集成光栅的各子光栅衍射后被二维聚焦成像镜聚焦,全光谱区的衍射光沿同轴光路L2,入射到二维面阵探测器的焦平面检测,L1和L2光路的离轴角为零。本发明无任何机械位移部件,实现全光谱区在衍射方向完全消除慧差影响差的宽光谱高分辨高速检测和分析,具有很高的光谱分辨率和工作可靠性。

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