检测电子设备中气流异常的方法和系统

    公开(公告)号:CN101206515B

    公开(公告)日:2011-04-13

    申请号:CN200710186632.1

    申请日:2007-11-14

    CPC classification number: G06F1/206

    Abstract: 本发明提供了用于检测电子设备中气流异常的方法和系统。具体说,将处理器负载选择性地增加,以放大因可能存在于计算机系统内的气流异常产生的效果。可以使用工作负载迁移将处理器负载从另一个节点移到目标节点。还可以在目标节点上产生人为负载。处理器负载增加到足以使气流异常会在选中节点产生可探测的温度差的级别。可将处理器负载增加一个经过计算以产生这个可探测的温度差的量。或者,可将处理器负载增加满负荷处理器利用率的40%到100%之间的一个预定量。在增加的处理器负载下,可将由温度传感器感知的实际温度与从该模型预测的温度进行比较,以探测气流异常的存在与否。

    检测电子设备中气流异常的方法和系统

    公开(公告)号:CN101206515A

    公开(公告)日:2008-06-25

    申请号:CN200710186632.1

    申请日:2007-11-14

    CPC classification number: G06F1/206

    Abstract: 本发明提供了用于检测电子设备中气流异常的方法和系统。具体说,将处理器负载选择性地增加,以放大因可能存在于计算机系统内的气流异常产生的效果。可以使用工作负载迁移将处理器负载从另一个节点移到目标节点。还可以在目标节点上产生人为负载。处理器负载增加到足以使气流异常会在选中节点产生可探测的温度差的级别。可将处理器负载增加一个经过计算以产生这个可探测的温度差的量。或者,可将处理器负载增加满负荷处理器利用率的40%到100%之间的一个预定量。在增加的处理器负载下,可将由温度传感器感知的实际温度与从该模型预测的温度进行比较,以探测气流异常的存在与否。

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