脉冲X射线辐射场内的光子数与电子数之比测量装置及方法

    公开(公告)号:CN113721284B

    公开(公告)日:2024-05-07

    申请号:CN202110898621.6

    申请日:2021-08-05

    摘要: 本发明公开了一种脉冲X射线辐射场内的光子数与电子数之比测量装置及方法,属于脉冲功率技术测量领域,具有吸收辐射场内的电子和测量辐射场内光子数与电子数之比的功能,包括二极管、真空实验腔、实验腔后端盖板及剂量测量系统和电流测量系统。二极管与真空实验腔连接为一体,实验腔后端盖板密封连接真空实验腔,剂量测量系统测量脉冲X射线的剂量分布;电流测量系统测量辐射场内电子;由剂量和能谱计算得到光子数,电流计算得到电子数,获得光子数与电子数之比。本发明在吸收辐射场中电子的同时对光子影响较小,有效减小了脉冲X射线效应试验中电子的干扰,建立了辐射场内的光子数与电子数之比测量系统,有助于后续试验中对脉冲X射线效应进行更准确的分析。

    一种设备电磁威胁的多等级QMU评估方法及系统

    公开(公告)号:CN115859690B

    公开(公告)日:2023-06-06

    申请号:CN202310117470.5

    申请日:2023-02-15

    摘要: 本发明属于电气电子设备的安全运行领域,具体提供的一种设备电磁威胁的多等级QMU评估方法及系统,包括以下步骤:步骤1,获取待测设备电磁效应的仿真结果,并根据该仿真结果获取得到待测设备面临的电磁威胁分布曲线;步骤2,获取待测设备带电状态下的电磁效应试验,得到实验数据;将得到的实验数据结合改进的核密度估计法得到待测设备多等级效应的概率分布曲线;步骤3,根据步骤2中得到的待测设备多等级效应的概率分布曲线定义设备的阈值分布曲线,并结合电磁威胁分布曲线和每个阈值分布曲线,对设备电磁威胁的多等级QMU进行评估;本发明填补了多等级QMU评估的空白,且QMU评估更准确合理。

    一种基于长线串扰的线缆束电磁脉冲敏感度测试系统及方法

    公开(公告)号:CN113740639B

    公开(公告)日:2022-12-09

    申请号:CN202110933090.X

    申请日:2021-08-12

    发明人: 梁涛 谢彦召

    IPC分类号: G01R31/00 G01R1/04

    摘要: 本发明公开了一种基于长线串扰的线缆束电磁脉冲敏感度测试系统及方法,旨在解决电磁脉冲敏感度测试方法耦合效率低,对电磁脉冲源等设备性能指标要求高、不便于灵活改变干扰场入射、极化参数的问题。本申请首先建立测试平台,选择拟测试的入射角、方向角和极化角,然后计算接地设置的平板上连接的电磁脉冲源的输出波形。根据本申请提出的敏感度测试方法不同于标准法及现有替代测试方法,本申请将相互串扰的邻近长线缆作为耦合网络,串扰属于近场耦合,在耦合效率上远强于标准法的远场耦合。本发明与现有技术相比,无需使用TEM小室、GTEM小室等设备,试验平台简单,成本低廉,便于操作,在线缆束辐射敏感度测试技术领域具有较好的应用前景。