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公开(公告)号:CN112262105B
公开(公告)日:2023-08-11
申请号:CN201980039341.0
申请日:2019-06-17
Applicant: 国立大学法人东北大学 , 株式会社大赛璐
IPC: C01B33/18
Abstract: 本发明提供核壳型多孔质二氧化硅粒子的制造方法,其包括下述工序:准备工序,准备包含无孔质二氧化硅粒子、阳离子性表面活性剂、碱性催化剂、电解质及醇的水溶液;壳前体形成工序,向该水溶液中添加二氧化硅源,在前述无孔质二氧化硅粒子的表面形成壳前体;以及壳形成工序,从该壳前体中除去阳离子性表面活性剂,形成多孔质的壳。
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公开(公告)号:CN112585089B
公开(公告)日:2023-06-20
申请号:CN201980054647.3
申请日:2019-08-13
Applicant: 国立大学法人东北大学 , 株式会社大赛璐
IPC: C01B33/18
Abstract: 本发明的课题在于提供壳被厚膜化的核壳型多孔质二氧化硅粒子的制造方法,通过下述核壳型多孔质二氧化硅粒子的制造方法而解决了该课题,所述制造方法包括(a)准备工序、(b)壳前体形成工序、(c)壳形成工序、(d)准备工序、(e)壳前体形成工序、及(f)壳形成工序,上述工序(d)至(f)进一步重复1次以上、3次以下,此时的工序(d)中的壳形成工序是指工序(f)的壳形成工序。
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公开(公告)号:CN112262105A
公开(公告)日:2021-01-22
申请号:CN201980039341.0
申请日:2019-06-17
Applicant: 国立大学法人东北大学 , 株式会社大赛璐
IPC: C01B33/18
Abstract: 本发明提供核壳型多孔质二氧化硅粒子的制造方法,其包括下述工序:准备工序,准备包含无孔质二氧化硅粒子、阳离子性表面活性剂、碱性催化剂、电解质及醇的水溶液;壳前体形成工序,向该水溶液中添加二氧化硅源,在前述无孔质二氧化硅粒子的表面形成壳前体;以及壳形成工序,从该壳前体中除去阳离子性表面活性剂,形成多孔质的壳。
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公开(公告)号:CN112585089A
公开(公告)日:2021-03-30
申请号:CN201980054647.3
申请日:2019-08-13
Applicant: 国立大学法人东北大学 , 株式会社大赛璐
IPC: C01B33/18
Abstract: 本发明的课题在于提供壳被厚膜化的核壳型多孔质二氧化硅粒子的制造方法,通过下述核壳型多孔质二氧化硅粒子的制造方法而解决了该课题,所述制造方法包括(a)准备工序、(b)壳前体形成工序、(c)壳形成工序、(d)准备工序、(e)壳前体形成工序、及(f)壳形成工序,上述工序(d)至(f)进一步重复1次以上、3次以下,此时的工序(d)中的壳形成工序是指工序(f)的壳形成工序。
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公开(公告)号:CN108698838A
公开(公告)日:2018-10-23
申请号:CN201780011843.3
申请日:2017-02-09
Applicant: 国立大学法人东北大学 , 株式会社大赛璐
IPC: C01B33/18
CPC classification number: C01B33/18 , B01J20/103 , B01J20/28057 , B01J20/28069 , B01J20/28078 , B01J20/283 , C01P2004/04 , C01P2004/52 , C01P2004/64 , C01P2004/84 , C01P2006/12 , C01P2006/14 , C01P2006/16
Abstract: 本发明提供核壳型多孔性二氧化硅粒子的制造方法,其包括:准备包含无孔性二氧化硅粒子、阳离子型表面活性剂、碱性催化剂、含有疏水部的添加物及醇的水溶液的准备工序;向该水溶液添加二氧化硅源,在上述无孔性二氧化硅粒子的表面形成壳前体的壳前体形成工序;以及从该壳前体除去含有疏水部的添加物及阳离子型表面活性剂,形成多孔性的壳的壳形成工序。
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公开(公告)号:CN109661579A
公开(公告)日:2019-04-19
申请号:CN201780053795.4
申请日:2017-08-31
Applicant: 国立大学法人东北大学 , 同和电子科技有限公司
IPC: G01N33/543 , C01G49/08 , G01N33/553
Abstract: 本发明提供一种磁性体复合颗粒,其通过利用磁性能够在短时间内从样品液体中分离,并且对样品液体的分散稳定性优异。提供一种磁性体复合颗粒,其在包含无机氧化物或聚合物的核颗粒的表面上形成有外壳,其中,所述外壳中含有磁性纳米颗粒和硅化合物,通过透射电子显微镜测定的所述磁性体复合颗粒的体积平均粒径(dTEM)的值为30nm以上且210nm以下,通过动态光散射法测定的所述颗粒的粒径(dDLS)的值与所述体积平均粒径(dTEM)的值之比即(dDLS)/(dTEM)的值为2.0以下。
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