基于IEC61850采样值的参数算法的测试方法

    公开(公告)号:CN105093157B

    公开(公告)日:2018-02-09

    申请号:CN201510567595.3

    申请日:2015-09-08

    IPC分类号: G01R35/00

    摘要: 本发明公开了一种基于IEC61850采样值的参数算法的测试方法,该测试方法依据的测试系统包括计算机,IEC61850协议数据报文发生器,数据报文分析仪,电参数被测装置和高精度计时器,IEC61850协议数据报文发生器是一种按照IEC61850协议并按时序输出测量值报文的虚拟信号发生器,数据报文分析仪是一种可对IEC61850协议数据报文发生器生成的数据报文进行解析、判断采样值是否正确的数据分析仪。采用该测试系统可以验证正弦周期信号下电参数算法精度、分辨率;非正弦周期信号下电参数算法精度和电能积算精度。本发明用于检测基于IEC61850数据模型的算法精度,剔除了时间因素的影响,简化了测试流程。

    基于调整脉冲常数的快速校表方法

    公开(公告)号:CN105116366B

    公开(公告)日:2017-09-15

    申请号:CN201510516572.X

    申请日:2015-08-21

    IPC分类号: G01R35/04

    摘要: 本发明公开了一种基于调整脉冲常数的快速校表方法,包括以下步骤,1)在生产过程中通过调整分频系数把电表的脉冲常数调整到原先的N倍;2)在电表内计量芯片与电表内MCU之间连接SPI总线上串联一个电阻,消除干扰或抖动;3)通过软件方式对电表校表,达到表计误差的要求;4)在生产校正完成后,将分频系数恢复到正常的状态,并去掉步骤2)中SPI总线上串联的电阻,从而把电表的脉冲常数恢复到原先的数值。本发明在生产时通过调整分频系数把电表的脉冲常数调整到原先的N倍,并消除数据信号传输SPI总线上的干扰或抖动,在生产校正完成后再把分频系数恢复到正常的状态,大幅提高生产效率和降低生产成本,具有良好的应用前景。