公开(公告)号：CN111505703A

公开(公告)日：2020-08-07

申请号：CN202010294886.0

申请日：2020-04-15

Applicant: 国家核安保技术中心

Inventor： 李多宏 ,  李达 ,  刘立坤 ,  周志波 ,  杨丽芳 ,  谭西早 ,  许振华 ,  武朝辉

IPC: G01T1/38

Abstract: 本发明实施例提供一种钚物质的钚质量测量方法、装置、设备及介质。该方法包括：获取多个钚标准样品中每个钚标准样品的特征信息，以及待测钚物质的第二钚同位素丰度和第二241Am同位素丰度，对每个钚标准样品和待测钚物质进行测量，基于每个特征信息中的第一钚同位素丰度和第一241Am同位素丰度、每个钚标准样品的第一总中子计数率和第一符合中子计数率、第一预设参数，得到每个钚标准样品的第三符合中子计数率，基于每个钚标准样品的第三符合中子计数率和第一等效240Pueff质量得到刻度曲线，根据第二总中子计数率、第二符合中子计数率、刻度曲线、第二钚同位素丰度、第二241Am同位素丰度和第一预设参数，确定待测钚物质的钚质量，能够提高测量精度。