Patent search ap:("四国计测工业株式会社") AND inv:"清水一范" Page 1

1.

发明公开
验蛋装置、验蛋程序及验蛋方法无效

公开(公告)号：CN114096844A

公开(公告)日：2022-02-25

申请号：CN202080047721.1

申请日：2020-06-25

Applicant: 四国计测工业株式会社

Inventor： 大西英希 , 松原弘树 , 清水一范

IPC: G01N33/08

Abstract: 本发明的课题在于提供一种能以高精度特定不良蛋的不良因素的验蛋装置、验蛋程序、及验蛋方法。本发明的解决手段具备：第1辨别单元32，其使用将蛋影像作为教导数据而预先制成的第1学习完毕模型，来辨别蛋是否有第1不良因素；第2辨别单元32，其使用将蛋影像作为教导数据而预先制成的、且与第1学习完毕模型不同的第2学习完毕模型，来辨别蛋是否具有与第1不良因素不同的第2不良因素；拍摄单元10,20，其将光照射至检查对象蛋，而拍摄检查对象蛋的影像；及控制单元32；上述控制单元是根据上述检查对象蛋的影像，使上述第1辨别单元和/或上述第2辨别单元辨别检查对象蛋的不良因素，由此辨别检查对象蛋是否有不良因素，当检查对象蛋具有不良因素的情况，则辨别该不良因素。

Patent Agency Ranking