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公开(公告)号：CN116819127A
公开(公告)日：2023-09-29
申请号：CN202310564542.0
申请日：2023-05-18
Abstract: 本发明涉及材料表征的技术领域，具体涉及一种获取纳米材料的红外、电学和力学的成像装置，包括原子力显微镜，原子力显微镜具有探针和样品放置区；还包括用以发射红外光源的光源发生器，红外光源照射至样品放置区；样品放置区上设有第一导电件，第一导电件与外部的供电端电连接为样品施加电压，探针通过第二导电件与样品上的电压进行导通；探针获取样品的待测区域上的电流信号和偏折信号；成像装置上的分析模块对电流信号和偏折信号进行分析，以获取样品的待测区域上的红外成像、电学成像和力学成像。采用本发明的成像装置，可以获取样品表面的多模态成像，以优化样品性能的检测步骤，提高样品性能检测的准确率。
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