一种可调衰减的局部放电测量系统及方法

    公开(公告)号:CN117907773A

    公开(公告)日:2024-04-19

    申请号:CN202410122751.4

    申请日:2024-01-30

    Abstract: 本发明公开了一种可调衰减的局部放电测量系统及方法,该系统包括:依次设置的泵浦光源、波分复用器、DFB‑FL、单模光纤、可调衰减器以及FBG,所述波分复用器的输出端还连接有光电探测结构,所述波分复用器的公共端与所述DFB‑FL连接,所述DFB‑FL的后端接入设定长度的单模光纤,所述单模光纤的末端绕制成光纤环,并与所述可调衰减器连接,所述FBG作为光纤反射镜,用于将激光反射回DFB‑FL的谐振腔进行干涉,所述可调衰减器用于调节反射激光的强度。本发明同时使用DFB‑FL和单模光纤传感,提高DFB‑FL在局部放电声信号检测中的灵敏度,利用可调衰减器将反馈光调至合适强度,避免局放检测频段出现的噪声。

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