继电保护实验仪校验装置

    公开(公告)号:CN101576609A

    公开(公告)日:2009-11-11

    申请号:CN200810064450.1

    申请日:2008-05-06

    Abstract: 继电保护实验仪校验装置。对新型继电保护实验仪性能和指标进行校验、调整的技术和设备仍沿用比较落后的传统方法,体现出:测试接线复杂,操作难度大,附加误差多,工作效率低。本发明组成包括:机箱(1),所述的机箱(1)中装有输出电路(2),所述的机箱(1)中装有输入电路(3),所述的输入电路(3)与模数转换器(4)连接,所述的模数转换器(4)与微处理器(5)连接,所述的微处理器(5)与显示器(6)连接,所述的微处理器(5)分别与晶振电路(7)、键盘电路(8)连接。本发明应用于校验、调整继电保护实验仪的主要技术参数。

    继电保护实验仪校验装置

    公开(公告)号:CN201199266Y

    公开(公告)日:2009-02-25

    申请号:CN200820089909.9

    申请日:2008-05-06

    Abstract: 继电保护实验仪校验装置。对新型继电保护实验仪性能和指标进行校验、调整的技术和设备仍沿用比较落后的传统方法,体现出:测试接线复杂,操作难度大,附加误差多,工作效率低。本实用新型组成包括:机箱(1),所述的机箱(1)中装有输出电路(2),所述的机箱(1)中装有输入电路(3),所述的输入电路(3)与模数转换器(4)连接,所述的模数转换器(4)与微处理器(5)连接,所述的微处理器(5)与显示器(6)连接,所述的微处理器(5)分别与晶振电路(7)、键盘电路(8)连接。本实用新型应用于校验、调整继电保护实验仪的主要技术参数。

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