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发明公开
多种环境下绝缘材料表面电位分布测量系统及测量方法无效

公开(公告)号：CN110045192A

公开(公告)日：2019-07-23

申请号：CN201910456806.4

申请日：2019-05-29

Applicant: 哈尔滨理工大学

Inventor： 陈庆国 , 宁鑫 , 王新宇 , 池明赫 , 林林

IPC: G01R29/24 , G01R31/12

Abstract: 多种环境下绝缘材料表面电位分布测量系统及测量方法，属于绝缘材料性能测试领域。本发明提供了一种能够适应多种氛围、能够调节环境参数的多种环境下绝缘材料表面电位分布测量系统及测量方法。本发明中，电晕充电系统、数据采集系统与密封试验腔体相连，密封试验腔体与综合检测单元的输入端通过线孔连接，综合检测单元的输出端与上位机连接，上位机与综合控制单元的输入端连接，综合控制单元的输出端与密封试验腔体通过线孔连接。本发明主要用于测量多种环境下绝缘材料的表面电位分布。

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