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公开(公告)号：CN115469450B
公开(公告)日：2023-06-06
申请号：CN202211015331.3
申请日：2022-08-24
Applicant: 哈尔滨理工大学
Abstract: 本发明公开了一种几何相位元件及其光轴设计方法和任意矢量光场产生装置。上述光轴设计方法包括：获得目标空间光强分布与目标空间二值相位分布；根据微元阵列对应的第一琼斯矩阵、所述微元阵列中对应微元的快慢轴之间的相对相位差值以及待调控偏振态对应的第二琼斯矩阵，获得调控后出射光场的第三琼斯矩阵；对第三琼斯矩阵进行偏振滤波获得调控后出射光场的电矢量；根据目标空间光强分布与调控后出射光场的电矢量及微元坐标，获得每个微元对应的光轴第一和第二指向，其中第一与第二指向相差π/2；以及针对微元阵列中对应第一相位的微元，将对应的第一指向作为其光轴指向；针对微元阵列中对应第二相位的微元，将对应的第二指向作为其光轴指向。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN115390239B
公开(公告)日：2023-03-28
申请号：CN202211000739.3
申请日：2022-08-19
Applicant: 哈尔滨理工大学
Abstract: 一种几何相位元件、及其设计方法和矢量光场产生装置，涉及光场空间模式变换技术领域，用以解决现有技术无法实现精确的空间复振幅调控的问题。所述方法包括：从目标光场的空间复振幅中提取相位空间二维分布信息及振幅空间二维分布信息；在所提取的所述相位空间二维分布信息上叠加闪耀光栅相位结构获得相位掩膜版；将所提取的所述振幅空间二维分布信息转译为光栅衍射效率分布；将所述光栅衍射效率分布叠加到所述相位掩膜版上得到复振幅掩膜版；将所述复振幅掩膜版作为目标几何相位空间分布转译为几何相位元件的光轴取向的二维空间分布。生成一种具备空间复振幅调制能力的二元几何相位元件，实现高效、高精确产生任意矢量光场。
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公开(公告)号：CN115390239A
公开(公告)日：2022-11-25
申请号：CN202211000739.3
申请日：2022-08-19
Applicant: 哈尔滨理工大学
Abstract: 一种几何相位元件、及其设计方法和矢量光场产生装置，涉及光场空间模式变换技术领域，用以解决现有技术无法实现精确的空间复振幅调控的问题。所述方法包括：从目标光场的空间复振幅中提取相位空间二维分布信息及振幅空间二维分布信息；在所提取的所述相位空间二维分布信息上叠加闪耀光栅相位结构获得相位掩膜版；将所提取的所述振幅空间二维分布信息转译为光栅衍射效率分布；将所述光栅衍射效率分布叠加到所述相位掩膜版上得到复振幅掩膜版；将所述复振幅掩膜版作为目标几何相位空间分布转译为几何相位元件的光轴取向的二维空间分布。生成一种具备空间复振幅调制能力的二元几何相位元件，实现高效、高精确产生任意矢量光场。
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公开(公告)号：CN115469450A
公开(公告)日：2022-12-13
申请号：CN202211015331.3
申请日：2022-08-24
Applicant: 哈尔滨理工大学
Abstract: 本发明公开了一种几何相位元件及其光轴设计方法和任意矢量光场产生装置。上述光轴设计方法包括：获得目标空间光强分布与目标空间二值相位分布；根据微元阵列对应的第一琼斯矩阵、所述微元阵列中对应微元的快慢轴之间的相对相位差值以及待调控偏振态对应的第二琼斯矩阵，获得调控后出射光场的第三琼斯矩阵；对第三琼斯矩阵进行偏振滤波获得调控后出射光场的电矢量；根据目标空间光强分布与调控后出射光场的电矢量及微元坐标，获得每个微元对应的光轴第一和第二指向，其中第一与第二指向相差π/2；以及针对微元阵列中对应第一相位的微元，将对应的第一指向作为其光轴指向；针对微元阵列中对应第二相位的微元，将对应的第二指向作为其光轴指向。
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公开(公告)号：CN115406543A
公开(公告)日：2022-11-29
申请号：CN202211235771.X
申请日：2022-10-10
Applicant: 哈尔滨理工大学
Abstract: 一种基于空间Stokes层析的光束复振幅测量方法，涉及光学技术领域，用以解决传统波前传感测量中分辨率低或抗干扰能力差的问题。本发明的技术要点包括：引入与待测光场偏振正交的参考光场，待测光场和参考光场通过偏振分光棱镜合束形成矢量光束，对矢量光束做空间Stokes测量，即对矢量光束的每一像素点做Stokes测量，获取空间Stokes参量，最后通过测得的空间偏振分布计算反演得出待测光场的空间复振幅信息。本发明通过空间Stokes测量计算得到光场复振幅，每个像素单独计算，各像素之间相互独立，互不串扰，抗干扰能力强，降低了整体误差的同时，提高了相位测量分辨率。
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公开(公告)号：CN213843029U
公开(公告)日：2021-07-30
申请号：CN202022540192.9
申请日：2020-11-05
Applicant: 哈尔滨理工大学
IPC: G01N21/45
Abstract: 一种基于光相干图像的折射率测量装置，属于光学测量领域、波动光学领域，其特征在于包括：单色LED、第一凸透镜、光阑、第二凸透镜、第一偏振片、分束器、第一反射镜、样品、第二反射镜、第二偏振片、图像传感器。未放置所述样品时，所述分束器至所述第一反射镜的光程与所述分束器至所述第二反射镜的光程一致。所述第二反射镜固定在带有千分尺的可移动平台上。该装置能实现对固体、液体折射率测量，而且使用前不需要用标准试样校对读数。
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