公开(公告)号：CN107705290B

公开(公告)日：2021-07-02

申请号：CN201710792457.4

申请日：2017-09-05

Applicant: 哈尔滨工业大学深圳研究生院

Inventor： 肖君军 ,  李雄杰 ,  姚杏枝

IPC: G06T7/00 ,  G06T7/13 ,  G06T7/143 ,  G06T7/12 ,  G06T7/149

Abstract: 本发明提供了一种AMOLED显示屏Mura缺陷检测方法，首先对AMOLED显示屏Mura图像采用均值漂移算法进行预分割，得到水平集算法所需的初始轮廓，然后再采用结合了图像的局部和全局信息的水平集算法对AMOLED显示屏Mura图像进行分割。本发明的有益效果是：解决了局部图像模型对初始轮廓敏感的问题，同时所提出的水平集算法结合了图像的局部和全局信息，解决了全局图像模型不能处理灰度不均图像的问题。

公开(公告)号：CN107705290A

公开(公告)日：2018-02-16

申请号：CN201710792457.4

申请日：2017-09-05

Applicant: 哈尔滨工业大学深圳研究生院

Inventor： 肖君军 ,  李雄杰 ,  姚杏枝

IPC: G06T7/00 ,  G06T7/13 ,  G06T7/143 ,  G06T7/12 ,  G06T7/149

CPC classification number: G06T7/0004 ,  G06T7/12 ,  G06T7/13 ,  G06T7/143 ,  G06T7/149 ,  G06T2207/20076 ,  G06T2207/20116 ,  G06T2207/30108

Abstract: 本发明提供了一种AMOLED显示屏Mura缺陷检测方法，首先对AMOLED显示屏Mura图像采用均值漂移算法进行预分割，得到水平集算法所需的初始轮廓，然后再采用结合了图像的局部和全局信息的水平集算法对AMOLED显示屏Mura图像进行分割。本发明的有益效果是：解决了局部图像模型对初始轮廓敏感的问题，同时所提出的水平集算法结合了图像的局部和全局信息，解决了全局图像模型不能处理灰度不均图像的问题。

公开(公告)号：CN107507571A

公开(公告)日：2017-12-22

申请号：CN201710749894.8

申请日：2017-08-28

Applicant: 哈尔滨工业大学深圳研究生院

Inventor： 肖君军 ,  姚杏枝 ,  李雄杰

IPC: G09G3/3233

Abstract: 本发明提供了一种对AMOLED进行外部光学补偿的方法，包括以下步骤：S1、对AMOLED采集的图像来测量显示屏的像素与像素间的发光亮度差异性；S2、根据Gamma曲线所描叙的发光亮度—灰阶标准特性，对驱动电流进行调整。本发明还提供了一种对AMOLED进行外部光学补偿的装置。本发明的有益效果是：提高了补偿亮度测量的精确度，补偿效果较佳，适用于大尺寸AMOLED检测。

公开(公告)号：CN107507571B

公开(公告)日：2019-09-27

申请号：CN201710749894.8

申请日：2017-08-28

Applicant: 哈尔滨工业大学深圳研究生院

Inventor： 肖君军 ,  姚杏枝 ,  李雄杰

IPC: G09G3/3233

Abstract: 本发明提供了一种对AMOLED进行外部光学补偿的方法，包括以下步骤：S1、对AMOLED采集的图像来测量显示屏的像素与像素间的发光亮度差异性；S2、根据Gamma曲线所描叙的发光亮度—灰阶标准特性，对驱动电流进行调整。本发明还提供了一种对AMOLED进行外部光学补偿的装置。本发明的有益效果是：提高了补偿亮度测量的精确度，补偿效果较佳，适用于大尺寸AMOLED检测。