一种高压电缆半导电屏蔽料带材表面凸起物的检测系统及检测方法

    公开(公告)号:CN113183434A

    公开(公告)日:2021-07-30

    申请号:CN202110369471.X

    申请日:2021-04-06

    Abstract: 本发明公开了一种高压电缆半导电屏蔽料带材表面凸起物的检测系统及检测方法,属于电缆材料检测技术领域。包括CCD工业相机、光源和高精度测量辊,CCD工业相机与光源分别设置于高精度测量辊的两侧,CCD工业相机的入光口中心线和光源的出光口中心线平行,且所述CCD工业相机的入光口沿所述CCD工业相机长度方向的中心线和光源的出光口沿所述光源长度方向的中心线皆与所述测量辊平行,高精度测量辊与光源发出的光线部分相切。本发明代替了复杂的人工检测,如挤出带材后人工用放大镜初步筛查,然后取样到显微镜下测量凸起的尺寸,省时省力,且光学检测的方式使得检测结果更加准确,能够复原出凸起物的尺寸。

    一种电缆半导电屏蔽料带材表面凸起的检测系统及方法

    公开(公告)号:CN113183434B

    公开(公告)日:2022-06-07

    申请号:CN202110369471.X

    申请日:2021-04-06

    Abstract: 本发明公开了一种电缆半导电屏蔽料带材表面凸起的检测系统及方法,属于电缆材料检测技术领域。包括CCD工业相机、光源和高精度测量辊,CCD工业相机与光源分别设置于高精度测量辊的两侧,CCD工业相机的入光口中心线和光源的出光口中心线平行,且所述CCD工业相机的入光口沿所述CCD工业相机长度方向的中心线和光源的出光口沿所述光源长度方向的中心线皆与所述测量辊平行,高精度测量辊与光源发出的光线部分相切。本发明代替了复杂的人工检测,如挤出带材后人工用放大镜初步筛查,然后取样到显微镜下测量凸起的尺寸,省时省力,且光学检测的方式使得检测结果更加准确,能够复原出凸起物的尺寸。

    辐照交联用紫外光LED发生装置

    公开(公告)号:CN207762584U

    公开(公告)日:2018-08-24

    申请号:CN201721804146.7

    申请日:2017-12-21

    Abstract: 一种辐照交联用紫外光LED发生装置及加工、工作方法。针对高压汞灯寿命短,效率低的问题,提出交联用紫外光的LED发光装置。一种辐照交联用紫外光LED发生装置,其组成包括:电源模块(1)、冷却座(6)、基板(7)、集成电路(8)、准直透镜(11)和LED灯珠,集成电路与基板集成为一体,其上根据不同需要焊接有3—20个LED灯珠,构成一个集成紫外光发光单元,每一个LED灯珠由透镜(10)和LED芯片(9)组合而成,根据辐照功率需要,基板上沿长度方向的一面可集成多组所述的LED紫外发光单元,另一面紧贴固定在冷却座的b面上,且LED紫外发光单元的数目与电源模块数目相同。本实用新型应用于辐照交联用紫外光LED发生装置。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

    LED紫外光辐照交联设备

    公开(公告)号:CN304758206S

    公开(公告)日:2018-08-03

    申请号:CN201730678522.1

    申请日:2017-12-28

    Abstract: 1.本外观设计产品的名称:LED紫外光辐照交联设备。
    2.本外观设计产品的用途:本外观设计产品用于LDE紫外光的辐射交联。
    3.本外观设计产品的设计要点:设计要点在主视图。
    4.最能表明本外观设计设计要点的图片或照片:主视图。
    5.省略视图:仰视图不含有设计要点,故省略仰视图。

    LED紫外光辐照交联设备
    7.
    外观设计

    公开(公告)号:CN305420727S

    公开(公告)日:2019-11-05

    申请号:CN201930156825.6

    申请日:2019-04-09

    Abstract: 1.本外观设计产品的名称:LED紫外光辐照交联设备。
    2.本外观设计产品的用途:本外观设计产品用于LED紫外光的辐照交联。
    3.本外观设计产品的设计要点:主视图。
    4.最能表明本外观设计设计要点的图片或照片:主视图。

Patent Agency Ranking