公开(公告)号：CN110784273B

公开(公告)日：2021-08-27

申请号：CN201910462622.9

申请日：2019-05-30

Applicant: 和硕联合科技股份有限公司

Inventor： 王策玄 ,  吴建逸 ,  吴朝旭 ,  王俊伟 ,  谢昕峯 ,  黄建志

IPC: H04B17/309

Abstract: 一种测试系统及测试方法，其中，测试方法用以测量待测装置中待测天线的无线传输性能，包含：驱动待测天线依据传输频带发送无线信号至测试天线；测量传输频带的多个通道的路径损耗，以计算相异的多个通道之间的至少一路径损耗差值；测量各多个通道的频率响应，以计算多个通道的多个频率响应各自的增益落差；以及当至少一路径损耗差值大于第一门限值或是多个频率响应的增益落差的任一者大于第二门限值时，驱动定位装置调整测试天线与待测装置之间的相对位置。

公开(公告)号：CN110784273A

公开(公告)日：2020-02-11

申请号：CN201910462622.9

申请日：2019-05-30

Applicant: 和硕联合科技股份有限公司

Inventor： 王策玄 ,  吴建逸 ,  吴朝旭 ,  王俊伟 ,  谢昕峯 ,  黄建志

IPC: H04B17/309

Abstract: 一种测试系统及测试方法，其中，测试方法用以测量待测装置中待测天线的无线传输性能，包含：驱动待测天线依据传输频带发送无线信号至测试天线；测量传输频带的多个通道的路径损耗，以计算相异的多个通道之间的至少一路径损耗差值；测量各多个通道的频率响应，以计算多个通道的多个频率响应各自的增益落差；以及当至少一路径损耗差值大于第一门限值或是多个频率响应的增益落差的任一者大于第二门限值时，驱动定位装置调整测试天线与待测装置之间的相对位置。