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公开(公告)号：CN103336224A
公开(公告)日：2013-10-02
申请号：CN201310276226.X
申请日：2013-07-03
Applicant: 同济大学
Inventor： 张文豪 , 闫书佳 , 金立军 , 段绍辉
IPC: G01R31/08
Abstract: 本发明公开一种基于复合信息的绝缘子温升故障综合诊断方法，通过红外热像仪拍摄绝缘子的红外图像，采用图像处理技术精确提取绝缘子图像所在区域，再结合该区域温度信息，实现绝缘子温升故障的诊断。本发明的优点是可以在不停电的状况下对绝缘子的污秽程度进行检测，也不需在杆塔上安装任何设备，运行和维护成本低，操作简单，使用安全可靠，检测精度高。
