利用纳米级Cu<sub>2–x</sub>S材料作为基底进行SERS检测的方法

    公开(公告)号:CN104730056B

    公开(公告)日:2017-04-19

    申请号:CN201410789821.8

    申请日:2014-12-17

    Applicant: 吉林大学

    Abstract: 利用纳米级Cu2–xS材料作为基底进行SERS检测的方法,属于纳米材料与检测技术领域,具体涉及一种采用Cu2–xS(0≤x≤1)等材料作为基底,在近红外及红外光区对探针分子进行表面增强拉曼光谱(SERS)检测的新方法。本发明所述的方法包括金属硫化物的合成和探针分子表面修饰制备,以及以金属硫化物为新型SERS基底对探针分子进行SERS检测两部分。通过新型基底的使用会得到更多材料表面和探针分子的结构和相互作用的信息,为进一步研究SERS效应的机理提供理论和实验依据,同时也为发展SERS效应成为材料表面的通用表征工具奠定基础。

    利用纳米级Cu2-xS材料作为基底进行SERS检测的方法

    公开(公告)号:CN104730056A

    公开(公告)日:2015-06-24

    申请号:CN201410789821.8

    申请日:2014-12-17

    Applicant: 吉林大学

    Abstract: 利用纳米级Cu2–xS材料作为基底进行SERS检测的方法,属于纳米材料与检测技术领域,具体涉及一种采用Cu2–xS(0≤x≤1)等材料作为基底,在近红外及红外光区对探针分子进行表面增强拉曼光谱(SERS)检测的新方法。本发明所述的方法包括金属硫化物的合成和探针分子表面修饰制备,以及以金属硫化物为新型SERS基底对探针分子进行SERS检测两部分。通过新型基底的使用会得到更多材料表面和探针分子的结构和相互作用的信息,为进一步研究SERS效应的机理提供理论和实验依据,同时也为发展SERS效应成为材料表面的通用表征工具奠定基础。

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