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公开(公告)号：CN118294686A
公开(公告)日：2024-07-05
申请号：CN202311617615.4
申请日：2023-11-30
Applicant: 古野电气株式会社
Abstract: 本发明提出一种分析装置，可提高基于相关处理的测定位置的修正精度。分析装置包括测光部、获取部以及修正部。测光部从高度方向上的一端开口的比色杯的宽度方向上的一端跨及另一端在多个测定位置对吸光度进行测定。获取部获取在将空白液放入至比色杯的状态下由测光部测定出的空白数据、及在将使检体与试剂反应后的反应液放入至比色杯的状态下由测光部测定出的检体数据。修正部基于空白数据及检体数据中的各测定位置的相关处理，进行使空白数据及检体数据各自的测定位置一致的修正。
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