-
公开(公告)号:CN117396748A
公开(公告)日:2024-01-12
申请号:CN202280037554.1
申请日:2022-03-10
Applicant: 古野电气株式会社
Inventor: 米山坚志
IPC: G01N21/49
Abstract: 本发明提供一种能够在短时间内测定准确的散射光的强度的测光装置。测光装置(5)包括:光源(51),向被配置于测光位置(P)的试管(2)的被照射区域照射光;基座部件(52),与光源(51)对置;以及多个第一受光元件(53),在基座部件(52)上,被配置于以从测光位置(P)的试管(2)射出的透射光的光轴为中心的由第一放射方向和第二放射方向划分的面状区域,分别接收从测光位置(P)的试管(2)散射的散射光。
-