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公开(公告)号：CN111272811B
公开(公告)日：2025-02-07
申请号：CN202010163000.9
申请日：2020-03-10
Applicant: 厦门理工学院
IPC: G01N25/20
Abstract: 本发明涉及辐射制冷技术领域，尤其是涉及的是一种辐射制冷测试装置，包括测试装置主体、测温装置、支架，所述测试装置主体包括顶面支撑杆、若干根竖杆，所述顶面支撑杆、若干根竖杆一起构成腔体，所述腔体的底部设置有用于放置测试样品的透明网层，所述腔体的外围均包覆有透明膜，所述测温装置设置在腔体的下方，所述支架包括与竖杆连接的若干根支杆。本发明结构简单，构造巧妙，制作成本低，太阳辐射吸收率低，透光率高，密封性良好，测试准确性好。
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公开(公告)号：CN111272811A
公开(公告)日：2020-06-12
申请号：CN202010163000.9
申请日：2020-03-10
Applicant: 厦门理工学院
IPC: G01N25/20
Abstract: 本发明涉及辐射制冷技术领域，尤其是涉及的是一种辐射制冷测试装置，包括测试装置主体、测温装置、支架，所述测试装置主体包括顶面支撑杆、若干根竖杆，所述顶面支撑杆、若干根竖杆一起构成腔体，所述腔体的底部设置有用于放置测试样品的透明网层，所述腔体的外围均包覆有透明膜，所述测温装置设置在腔体的下方，所述支架包括与竖杆连接的若干根支杆。本发明结构简单，构造巧妙，制作成本低，太阳辐射吸收率低，透光率高，密封性良好，测试准确性好。
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公开(公告)号：CN111272810B
公开(公告)日：2025-02-07
申请号：CN202010162318.5
申请日：2020-03-10
Applicant: 厦门理工学院
IPC: G01N25/20
Abstract: 本发明涉及辐射制冷技术领域，尤其是涉及的是一种辐射制冷薄膜制冷性能测试装置，包括金属罐体、设置在金属罐体一侧的盖体、设置在盖体外的测温装置，所述盖体上设置有口径与测温装置热电偶感温端口径相匹配的开口，所述开口处向金属罐体内延伸设置有导管，所述测温装置的热电偶感温端从开口穿入沿导管伸入至金属罐体内，所述金属罐体的顶部经抛光处理呈优弧面，所述金属罐体的底部为平面。本发明结构简单，构造巧妙，制作成本低，密封性良好，可以在镀膜之前对薄膜的辐射制冷性能进行快速评估测试，降低测试成本，提高测试准确性。
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公开(公告)号：CN111272810A
公开(公告)日：2020-06-12
申请号：CN202010162318.5
申请日：2020-03-10
Applicant: 厦门理工学院
IPC: G01N25/20
Abstract: 本发明涉及辐射制冷技术领域，尤其是涉及的是一种辐射制冷薄膜制冷性能测试装置，包括金属罐体、设置在金属罐体一侧的盖体、设置在盖体外的测温装置，所述盖体上设置有口径与测温装置热电偶感温端口径相匹配的开口，所述开口处向金属罐体内延伸设置有导管，所述测温装置的热电偶感温端从开口穿入沿导管伸入至金属罐体内，所述金属罐体的顶部经抛光处理呈优弧面，所述金属罐体的底部为平面。本发明结构简单，构造巧妙，制作成本低，密封性良好，可以在镀膜之前对薄膜的辐射制冷性能进行快速评估测试，降低测试成本，提高测试准确性。
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公开(公告)号：CN212159632U
公开(公告)日：2020-12-15
申请号：CN202020288963.7
申请日：2020-03-10
Applicant: 厦门理工学院
IPC: G01N25/20
Abstract: 本发明涉及辐射制冷技术领域，尤其是涉及的是一种辐射制冷测试装置，包括测试装置主体、测温装置、支架，所述测试装置主体包括顶面支撑杆、若干根竖杆，所述顶面支撑杆、若干根竖杆一起构成腔体，所述腔体的底部设置有用于放置测试样品的透明网层，所述腔体的外围均包覆有透明膜，所述测温装置设置在腔体的下方，所述支架包括与竖杆连接的若干根支杆。本发明结构简单，构造巧妙，制作成本低，太阳辐射吸收率低，透光率高，密封性良好，测试准确性好。
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公开(公告)号：CN212159633U
公开(公告)日：2020-12-15
申请号：CN202020289180.0
申请日：2020-03-10
Applicant: 厦门理工学院
IPC: G01N25/20
Abstract: 本发明涉及辐射制冷技术领域，尤其是涉及的是一种可降低成本的辐射制冷薄膜的性能测试装置，包括金属罐体、支撑架、测温装置，所述金属罐体倾斜设置在支撑架上，所述金属罐体内设置有罐体空腔、液体腔，所述液体腔设置在罐体空腔之上，所述金属罐体的一侧设置有与液体腔相连通的开口，所述开口的口径与测温装置热电偶感温端口径相匹配，所述开口处向金属罐体外延伸设置有长颈，所述测温装置热电偶感温端沿着长颈穿过开口伸入液体腔内，所述金属罐体的顶部经抛光处理呈有优弧面。本发明结构简单，构造巧妙，制作成本低，密封性良好，热量传递快速有效，可以在镀膜之前对薄膜的辐射制冷性能进行快速评估测试，降低测试成本。
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公开(公告)号：CN212845134U
公开(公告)日：2021-03-30
申请号：CN202020288490.0
申请日：2020-03-10
Applicant: 厦门理工学院
IPC: G01N25/20
Abstract: 本发明涉及辐射制冷技术领域，尤其是涉及的是一种辐射制冷薄膜制冷性能测试装置，包括金属罐体、设置在金属罐体一侧的盖体、设置在盖体外的测温装置，所述盖体上设置有口径与测温装置热电偶感温端口径相匹配的开口，所述开口处向金属罐体内延伸设置有导管，所述测温装置的热电偶感温端从开口穿入沿导管伸入至金属罐体内，所述金属罐体的顶部经抛光处理呈优弧面，所述金属罐体的底部为平面。本发明结构简单，构造巧妙，制作成本低，密封性良好，可以在镀膜之前对薄膜的辐射制冷性能进行快速评估测试，降低测试成本，提高测试准确性。
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