一种提高正向光的LED芯片及其制备方法

    公开(公告)号:CN109545948A

    公开(公告)日:2019-03-29

    申请号:CN201811456666.2

    申请日:2018-11-30

    Inventor: 许英朝 蔡立鹤

    Abstract: 本发明提供了一种提高正向光的LED芯片及其制备方法,涉及半导体发光器件机制备技术领域,包括:衬底、N型GaN层、MQW层、P型GaN层、上电极、下电极以及金属反射墙;其中,N型GaN层未被MQW层以及P型GaN层覆盖的第一表面区域与MQW层以及P型GaN层形成台阶结构;上电极位于P型GaN层上;金属反射墙位于N型GaN层的第一表面区域上,且包围MQW层与P型GaN层,以形成一墙体;下电极位于N型GaN层的第一表面区域上,且位于金属反射墙以及MQW层之间。通过切割道区域内设有金属反射墙,金属反射墙制备于台阶结构上,形成墙体包围MQW层与P型GaN层。保证了有源发光层MQW层向外辐射的光,经由金属反射墙的反射作用,增加了光的反射,从而提高正向出光。

    一种提高正向光的LED芯片

    公开(公告)号:CN209183566U

    公开(公告)日:2019-07-30

    申请号:CN201822006986.X

    申请日:2018-11-30

    Inventor: 许英朝 蔡立鹤

    Abstract: 本实用新型提供了一种提高正向光的LED芯片,涉及半导体发光器件机制备技术领域,包括:衬底、N型GaN层、MQW层、P型GaN层、上电极、下电极以及金属反射墙;其中,N型GaN层未被MQW层以及P型GaN层覆盖的第一表面区域与MQW层以及P型GaN层形成台阶结构;上电极位于P型GaN层上;金属反射墙位于N型GaN层的第一表面区域上,且包围MQW层与P型GaN层,以形成一墙体;下电极位于N型GaN层的第一表面区域上,且位于金属反射墙以及MQW层之间。通过切割道区域内设有金属反射墙,金属反射墙制备于台阶结构上,形成墙体包围MQW层与P型GaN层。保证了有源发光层MQW层向外辐射的光,经由金属反射墙的反射作用,增加了光的反射,从而提高正向出光。

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