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公开(公告)号：CN215768441U
公开(公告)日：2022-02-08
申请号：CN202120516417.9
申请日：2021-03-11
Applicant: 厦门理工学院
IPC: G01N33/00
Abstract: 本实用新型公开了一种带有抗干扰帽的辐射制冷性能测试样品装置，包括底座、温度计、长杆、样品台、样品装置、抗干扰帽和辐射制冷试样，该温度计装设于该底座内，该长杆底端嵌入安装于该底座上，该样品台底端固定安装于该长杆上，该样品装置锁固安装于该样品台上，该抗干扰帽包括帽身和小孔，该帽身上预制设有该小孔，该帽身放置于该样品装置顶端，该辐射制冷试样位于该样品装置顶端，通过优化设置抗干扰帽，抗干扰帽上一体式帽体结构，抗干扰帽简易安装于样品装置上，结构简单实用，外表贴附银膜或涂刷白漆，用以降低附件本身对太阳辐射的吸收，能够高效防止阳光对实验数据的干扰。
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