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公开(公告)号：CN214584790U
公开(公告)日：2021-11-02
申请号：CN202120516658.3
申请日：2021-03-11
Applicant: 厦门理工学院
IPC: G01N17/00
Abstract: 本实用新型公开了一种高度可调节的辐射制冷性能测试装置，包括底座、调节机构、立柱、样品台、样品装置、抗干扰帽和辐射制冷试样，该调节机构锁固安装于该底座上，该立柱紧固安装于该调节机构上，该样品台底端连接安装有该立柱，该样品装置锁固安装于该样品台上，该调节机构包括第一座体、柱杆、驱动组件、连接组件和第二座体，该第一座体上插接安装有该柱杆，该驱动组件组合安装于该第一座体上，该连接组件锁固安装于该第二座体上，通过在立柱底端优化设置调节机构，在需要调节样品装置所处的高度来降低地面辐射对测试结果的影响时，简易控制电机使得螺纹轴转动，螺纹轴与第二座体螺纹配合，进而实现竖直方向上的高度调节，高度便捷调节。
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