公开(公告)号：CN1035735C

公开(公告)日：1997-08-27

申请号：CN95107524.1

申请日：1995-07-04

Applicant: 厦门大学

Inventor： 林昌健 ,  卓向东 ,  田昭武 ,  陈纪东 ,  王辉 ,  谭建光

IPC: G01N27/26

Abstract: 本发明涉及用于电化学方法测试或分析材料的装置，该装置包括阵列电极、参考电极、电解池、多通道模拟开关、A/D转换器、微计算机和电平转换器。其中，所述阵列电极由金属丝束按M×N阵列排列，与参考电极置电解池内，阵列电极接模拟开关和模/数转换器，模拟开关I/O端接参考电极；模/数转换器输出接微机，微机I/O端口接电平转换器，电平转换器开/关控制信号接模拟开关。该装置可用于直接测量金属/聚合物界面的电位分布。

公开(公告)号：CN1119739A

公开(公告)日：1996-04-03

申请号：CN95107524.1

申请日：1995-07-04

Applicant: 厦门大学

Inventor： 林昌健 ,  卓向东 ,  田昭武 ,  陈纪东 ,  王辉 ,  谭建光

IPC: G01N27/26

Abstract: 涉及一种电化学方法测试或分析材料的装置，M×N阵列电极和参考电极置入电解池，阵列电极的引出端接多通道模拟开关，其输出通过A/D转换后输至微计算机，微计算机输出的控制信号通过数字I/O及电平转换器接多通道模拟开关。可直接原位测量金属/聚合物界面的电位分布，由此可研究腐蚀物种在聚合物涂层中的传输过程，可研究聚合物涂层的不均一性及缺陷分布，研究金属/聚合物界面的腐蚀电化学机理，评测聚合物涂层的耐蚀性能。

公开(公告)号：CN2236653Y

公开(公告)日：1996-10-02

申请号：CN95215956.2

申请日：1995-07-04

Applicant: 厦门大学

Inventor： 林昌健 ,  卓向东 ,  田昭武 ,  陈纪东 ,  王辉 ,  谭建光

IPC: G01N27/30

Abstract: 一种用电化学方法测试或分析材料的阵列电极，由一束金属丝组成，每根金属丝间相互绝缘，用环氧树脂粘连，金属丝按M×N阵列平行排列，金属丝的一端封装在绝缘材料套圈内，端截面涂刷有机聚合物涂层。如配合多通道电子技术及微机控制技术，可直接原位测量金属/聚合物界面腐蚀电位分布，研究相关腐蚀物种在聚合物中的传输过程、聚合物涂层的不均一性及缺陷分布，以及金属/聚合物界面腐蚀的发生与发展机制。