公开(公告)号：CN103344620B

公开(公告)日：2015-10-14

申请号：CN201310267360.3

申请日：2013-06-28

Applicant: 厦门大学

Inventor： 李耀群 ,  蔡伟鹏 ,  刘倩 ,  曹烁晖 ,  谢凯信 ,  翁玉华

IPC: G01N21/64

Abstract: 双模式表面等离子体耦合发射荧光成像检测装置及方法，涉及一种荧光成像检测。所述装置设有样品系统、入射臂系统和检测臂系统；所述样品系统包括双旋转台、样品架、棱镜和光学石英基底；所述双旋转台设有上旋转台、下旋转台和中心轴，所述入射臂系统设有激光光源、衰减器、起偏器、显微物镜、针孔、平凸透镜、方形可变光阑和第一光学导轨；所述检测臂系统设有滤光片、成像透镜、CCD接收器和第二光学导轨。调节入射臂系统中的方形可变光阑的尺寸获得大小合适的矩形入射光斑；选择RK模式的SPCE成像的检测；选择KR模式的SPCE成像的检测。可有效避免在单一的RK模式下，当荧光信号太弱时较难检测的问题。

公开(公告)号：CN103344620A

公开(公告)日：2013-10-09

申请号：CN201310267360.3

申请日：2013-06-28

Applicant: 厦门大学

Inventor： 李耀群 ,  蔡伟鹏 ,  刘倩 ,  曹烁晖 ,  谢凯信 ,  翁玉华

IPC: G01N21/64

Abstract: 双模式表面等离子体耦合发射荧光成像检测装置及方法，涉及一种荧光成像检测。所述装置设有样品系统、入射臂系统和检测臂系统；所述样品系统包括双旋转台、样品架、棱镜和光学石英基底；所述双旋转台设有上旋转台、下旋转台和中心轴，所述入射臂系统设有激光光源、衰减器、起偏器、显微物镜、针孔、平凸透镜、方形可变光阑和第一光学导轨；所述检测臂系统设有滤光片、成像透镜、CCD接收器和第二光学导轨。调节入射臂系统中的方形可变光阑的尺寸获得大小合适的矩形入射光斑；选择RK模式的SPCE成像的检测；选择KR模式的SPCE成像的检测。可有效避免在单一的RK模式下，当荧光信号太弱时较难检测的问题。