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公开(公告)号：CN108133879B
公开(公告)日：2020-04-03
申请号：CN201711389856.2
申请日：2017-12-21
Applicant: 厦门大学
Abstract: 用于微纳尺度形貌及化学信息同时原位获得的近场离子源，涉及近场离子源。设有光源、后电离源、光纤、Z轴光纤‑样品距离控制系统、样品、质量分析器和XY二维移动平台；控制系统对光纤末端与样品之间的距离调控，当光纤趋近到样品表面时通过反馈系统获得Z轴高度信息；光源发出的光束经光纤进行传输，并照射在样品表面；后电离源所产生的离子经传输进入质量分析器，通过质量分析器获得质谱谱图；通过逐点扫描的方式记录样品表面微纳尺度的形貌信息，获得其三维形貌轮廓的成像图；原位记录样品表面微区的化学信息，获得其表面化学信息的二维质谱成像图，获得空间分辨率可达微米甚至是纳米尺度，可实现分子及元素薄层的深度分析。
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公开(公告)号：CN108133879A
公开(公告)日：2018-06-08
申请号：CN201711389856.2
申请日：2017-12-21
Applicant: 厦门大学
Abstract: 用于微纳尺度形貌及化学信息同时原位获得的近场离子源，涉及近场离子源。设有光源、后电离源、光纤、Z轴光纤-样品距离控制系统、样品、质量分析器和XY二维移动平台；控制系统对光纤末端与样品之间的距离调控，当光纤趋近到样品表面时通过反馈系统获得Z轴高度信息；光源发出的光束经光纤进行传输，并照射在样品表面；后电离源所产生的离子经传输进入质量分析器，通过质量分析器获得质谱谱图；通过逐点扫描的方式记录样品表面微纳尺度的形貌信息，获得其三维形貌轮廓的成像图；原位记录样品表面微区的化学信息，获得其表面化学信息的二维质谱成像图，获得空间分辨率可达微米甚至是纳米尺度，可实现分子及元素薄层的深度分析。
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