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公开(公告)号:CN114822987A
公开(公告)日:2022-07-29
申请号:CN202210428405.X
申请日:2022-04-22
Applicant: 厦门大学
Abstract: 本发明公开了一种紫外‑可见‑近红外透明的高导电性Ta掺杂SnO2薄膜的制备方法,其包括如下步骤:将SnO2和Ta2O5多晶粉末混合,使用固体烧结法,获得Ta掺杂SnO2多晶靶材;在少量氧气存在的条件下,以所述Ta掺杂SnO2为靶材,利用脉冲激光沉积法在Al2O3衬底上生长所述薄膜。本发明制得的Ta掺杂SnO2薄膜室温导电性可超过6000S/cm,迁移率为75cm2/Vs,最高载流子浓度可达8.1×1020cm‑3,且在可见光区(1.4‑3.3eV)透过率超过90%,在紫外‑可见‑近红外光范围(0.75‑4.2eV)总透过率超过80%。本发明可作为透明导电氧化物材料,可应用于触摸显示屏、太阳能电池、气体传感器等多种现代关键技术。
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公开(公告)号:CN114822987B
公开(公告)日:2023-04-14
申请号:CN202210428405.X
申请日:2022-04-22
Applicant: 厦门大学
Abstract: 本发明公开了一种紫外‑可见‑近红外透明的高导电性Ta掺杂SnO2薄膜的制备方法,其包括如下步骤:将SnO2和Ta2O5多晶粉末混合,使用固体烧结法,获得Ta掺杂SnO2多晶靶材;在少量氧气存在的条件下,以所述Ta掺杂SnO2为靶材,利用脉冲激光沉积法在Al2O3衬底上生长所述薄膜。本发明制得的Ta掺杂SnO2薄膜室温导电性可超过6000S/cm,迁移率为75cm2/Vs,最高载流子浓度可达8.1×1020cm‑3,且在可见光区(1.4‑3.3eV)透过率超过90%,在紫外‑可见‑近红外光范围(0.75‑4.2eV)总透过率超过80%。本发明可作为透明导电氧化物材料,可应用于触摸显示屏、太阳能电池、气体传感器等多种现代关键技术。
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公开(公告)号:CN118507576A
公开(公告)日:2024-08-16
申请号:CN202410574025.6
申请日:2024-05-10
Applicant: 厦门大学
IPC: H01L31/105 , H01L31/0336 , H01L31/18
Abstract: 本发明公开了一种基于n+‑Ga2O3/i‑Ga2O3/SnO异质结深紫外高速光电探测器,其外延结构由下至上包括衬底、n+‑Ga2O3层、i‑Ga2O3层和SnO层,外延结构通过台面蚀刻至裸露n+‑Ga2O3层,n型欧姆接触电极和p型欧姆接触电极分别设于n+‑Ga2O3层上和SnO层上。本发明采用高电子浓度的n+‑Ga2O3层和高空穴浓度的p‑型SnO层协同可为i‑Ga2O3层提供大的内建电场从而增强耗尽层区域厚度,不需要施加外部偏压,将光生载流子快速扫出结区,实现光生电荷的快速、高效收集。本发明还提供了其制备方法。本发明日盲紫外光电探测器具有自供电、探测灵敏度高、响应速度快的优异性能,有利于生产和应用推广。
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