公开(公告)号：CN117361628A

公开(公告)日：2024-01-09

申请号：CN202311350289.5

申请日：2023-10-18

Applicant: 厦门大学

Inventor： 林伟毅 ,  李波 ,  叶添 ,  庄萍萍 ,  闫晗

IPC: C01G39/06

Abstract: 本发明提供了一种多层二硫化钼薄膜的制备方法，属于薄膜材料制备技术领域。本发明将四硫代钼酸铵溶液涂覆于第一衬底的单面，去除混合有机溶剂后形成固态薄膜，将所得第一衬底‑固态薄膜工件进行预退火处理以使所述固态薄膜转化为前驱体薄膜，在所得第一衬底‑前驱体薄膜工件中前驱体薄膜的表面叠层放置第二衬底，依次进行键合处理与退火处理，在所述第一衬底与第二衬底之间得到所述多层二硫化钼薄膜。本发明利用键合技术可以减少退火处理过程中薄膜质量损伤，能够在缩短处理时间的基础上得到高质量多层二硫化钼薄膜。

公开(公告)号：CN107228849B

公开(公告)日：2019-04-26

申请号：CN201710483942.3

申请日：2017-06-23

Applicant: 厦门大学

Inventor： 郭自泉 ,  丘海华 ,  陈忠 ,  吕毅军 ,  陈国龙 ,  高玉琳 ,  林伟毅

IPC: G01N21/64

Abstract: 白光LED荧光粉变温光谱特性的透射式测试装置及方法，涉及LED荧光粉测试。测试装置设有铝圆柱、石墨烯玻璃、凸透镜、荧光粉控温电路装置、LED蓝光芯片、LED芯片控温装置、积分球、光谱仪和计算机。将荧光粉控温电路装置引入了测试装置中，弥补了变温荧光粉光谱特性测试的技术空白。采用了透射式的测试方法，更加符合白光LED的工作模式和原理。使用凸透镜将蓝光汇聚为平行光，提高了激发光的均匀分布性。利用了积分球收集光，减少了光的泄露，提高测量数据可靠性。把荧光粉控温点和积分球分离，积分球和铝圆柱之间作了绝热处理，有利于避免温度对积分球影响。分别对LED芯片和荧光粉进行了控温，测试出不同条件下的光谱特性。

公开(公告)号：CN117740756A

公开(公告)日：2024-03-22

申请号：CN202311774682.7

申请日：2023-12-21

Applicant: 厦门大学

Inventor： 林伟毅 ,  朱云亭

IPC: G01N21/65 ,  G01N21/71

Abstract: 本发明属于超薄金刚石导热性能检测技术领域，具体涉及一种金刚石超薄结构导热性能的测试方法。本发明将所述待测金刚石超薄结构固定在热沉上；在所述待测金刚石超薄结构表面，采用标定激光激发样品，通过分析金刚石特征拉曼峰峰位和环境温度的线性关系，得到待测金刚石超薄结构的温度系数；在所述待测金刚石超薄结构表面，采用加热激光激发样品，计算得到不同环境温度下待测金刚石超薄结构的热导率。本发明基于拉曼光谱进行金刚石超薄结构导热性能测试，该方法属于非接触类测试方法，相较于3ω法，避免了表面工艺对样品产生的破坏和测试误差；相较于TDTR法，其测试流程相对简单；且由于测试激光半径较小，该方法具有超高空间分辨率。

公开(公告)号：CN107228849A

公开(公告)日：2017-10-03

申请号：CN201710483942.3

申请日：2017-06-23

Applicant: 厦门大学

Inventor： 郭自泉 ,  丘海华 ,  陈忠 ,  吕毅军 ,  陈国龙 ,  高玉琳 ,  林伟毅

IPC: G01N21/64

CPC classification number: G01N21/6402 ,  G01N21/64 ,  G01N2021/6417

Abstract: 白光LED荧光粉变温光谱特性的透射式测试装置及方法，涉及LED荧光粉测试。测试装置设有铝圆柱、石墨烯玻璃、凸透镜、荧光粉控温电路装置、LED蓝光芯片、LED芯片控温装置、积分球、光谱仪和计算机。将荧光粉控温电路装置引入了测试装置中，弥补了变温荧光粉光谱特性测试的技术空白。采用了透射式的测试方法，更加符合白光LED的工作模式和原理。使用凸透镜将蓝光汇聚为平行光，提高了激发光的均匀分布性。利用了积分球收集光，减少了光的泄露，提高测量数据可靠性。把荧光粉控温点和积分球分离，积分球和铝圆柱之间作了绝热处理，有利于避免温度对积分球影响。分别对LED芯片和荧光粉进行了控温，测试出不同条件下的光谱特性。