公开(公告)号：CN115689912A

公开(公告)日：2023-02-03

申请号：CN202211166903.8

申请日：2022-09-23

Applicant: 厦门大学

Inventor： 刘国坤 ,  罗思恒 ,  曹茂丰 ,  岳霞霞 ,  任斌 ,  田中群

IPC: G06T5/00 ,  G06N3/0464 ,  G06N3/08

Abstract: 本发明提供一种针对单张高光谱成像的深度学习去噪方法，包括如下步骤：针对含有噪声的高光谱数据进行欠采样，获得含有噪声的欠采样高光谱成像；模型训练，将欠采样的高光谱成像分别放置于模型的输入端和输出端，该模型主要由两部分组成，即编码器和解码器；编码器的输入端和解码器的输出端均为含有噪声的图像，通过利用均方差作为损失函数，模型训练至收敛，得到训练好的模型；利用模型去噪，将多个含有噪声的欠采样高光谱成像输入到训练好的模型，并输出去噪后的欠采样图像；将去噪后的欠采样图像结果进行累计加和，形成去噪后的高光谱成像；本发明提供的方法，仅需单张高光谱即可构筑深度学习去噪模型,且具有良好的去噪性能。

公开(公告)号：CN115308130B

公开(公告)日：2024-11-29

申请号：CN202210946093.1

申请日：2022-08-08

Applicant: 厦门大学

Inventor： 何浩 ,  任斌 ,  王磊 ,  曹茂丰

IPC: G01N21/01 ,  G01N21/25

Abstract: 本发明公开显微光谱仪器噪音的分析方法，包括：通过显微光谱仪器检测无信号的基底，得到基底光谱数据；分解基底光谱数据得到光谱分量；从光谱分量中去除仪器背景光谱分量，得到显微光谱仪器的噪音值；仪器背景信号分量通过傅里叶变换后设定频率阈值判定。本发明中的显微光谱仪器噪音的分析方法通过检测无信号的基底获取基底光谱数据，从基底光谱数据中提取仪器背景光谱分量，从基底光谱数据中去除背景光谱分量，从而获得显微光谱仪器的噪音。获取的噪音为显微光谱仪器整体噪音，可真实、准确的反映显微光谱仪器在当前测试条件和状态下的显微光谱仪器噪音。同时，本发明还包括显微光谱仪器噪音的处理方法、降噪模型和设备。

公开(公告)号：CN113376097A

公开(公告)日：2021-09-10

申请号：CN202110637916.8

申请日：2021-06-08

Applicant: 厦门大学

Inventor： 裴昕迪 ,  包一凡 ,  朱梦媛 ,  赵晓娇 ,  曹茂丰 ,  任斌

IPC: G01N21/01 ,  G01N21/65 ,  C25F3/02

Abstract: 一种纳米级银针尖的高重现性制备方法，涉及STM‑TERS银针尖的电化学刻蚀制备方法。1)待刻蚀银丝前处理：刻蚀用银丝在使用前需要用硼氢化钠溶液浸泡，以除去表面氧化层；2)电化学刻蚀装置选择：刻蚀装置选用两电极体系和三电极体系；3)银丝的电化学刻蚀：选择合适的刻蚀剂和刻蚀条件对银丝进行电化学刻蚀，到达刻蚀终点时及时切断电路，银丝末端形成尖锐光滑的针尖，即得纳米级银针尖。硫氰酸钾刻蚀剂无毒无害，制备的纳米级银针尖表面光滑，末端尖锐，纳米级银针尖的曲率半径在100nm以下，具有STM‑TERS增强活性。不仅可用于STM成像，还可用于TERS测试，具有高成像质量和高TERS活性。

公开(公告)号：CN115308130A

公开(公告)日：2022-11-08

申请号：CN202210946093.1

申请日：2022-08-08

Applicant: 厦门大学

Inventor： 何浩 ,  任斌 ,  王磊 ,  曹茂丰

IPC: G01N21/01 ,  G01N21/25

Abstract: 本发明公开显微光谱仪器噪音的分析方法，包括：通过显微光谱仪器检测无信号的基底，得到基底光谱数据；分解基底光谱数据得到光谱分量；从光谱分量中去除仪器背景光谱分量，得到显微光谱仪器的噪音值；仪器背景信号分量通过傅里叶变换后设定频率阈值判定。本发明中的显微光谱仪器噪音的分析方法通过检测无信号的基底获取基底光谱数据，从基底光谱数据中提取仪器背景光谱分量，从基底光谱数据中去除背景光谱分量，从而获得显微光谱仪器的噪音。获取的噪音为显微光谱仪器整体噪音，可真实、准确的反映显微光谱仪器在当前测试条件和状态下的显微光谱仪器噪音。同时，本发明还包括显微光谱仪器噪音的处理方法、降噪模型和设备。