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公开(公告)号：CN105136076B
公开(公告)日：2017-01-25
申请号：CN201510288034.X
申请日：2015-05-29
Applicant: 厦门大学
IPC: G01B21/00
Abstract: 大行程联动机构二维平面圆度误差标定方法，涉及工作加工二维平面误差。将机构整体联动区域划分成多个局部区域，每相邻局部区域间拥有重叠部分，选取球杆仪杆长，在各局部区域进行联动误差检测，得到多个基于各局部区域中心的局部联动误差信息量；将基于各局部区域中心的局部联动误差信息进行误差分离，得到两联动直线轴在各检测区域的局部运动误差，继而得到球杆仪端部在各运动位置的实际坐标；根据相邻检测区域在重叠部分具有相同的分离误差信息，拼接出基于各个局部的整体联动轨迹；设定整体检测区域中心为公共基点，计算整体联动轨迹上各点到该基点的径向误差，基于最小二乘算法，分离出各直线运动轴整体运动误差，用于机构联动误差补偿。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105136076A
公开(公告)日：2015-12-09
申请号：CN201510288034.X
申请日：2015-05-29
Applicant: 厦门大学
IPC: G01B21/00
Abstract: 大行程联动机构二维平面圆度误差标定方法，涉及工作加工二维平面误差。将机构整体联动区域划分成多个局部区域，每相邻局部区域间拥有重叠部分，选取球杆仪杆长，在各局部区域进行联动误差检测，得到多个基于各局部区域中心的局部联动误差信息量；将基于各局部区域中心的局部联动误差信息进行误差分离，得到两联动直线轴在各检测区域的局部运动误差，继而得到球杆仪端部在各运动位置的实际坐标；根据相邻检测区域在重叠部分具有相同的分离误差信息，拼接出基于各个局部的整体联动轨迹；设定整体检测区域中心为公共基点，计算整体联动轨迹上各点到该基点的径向误差，基于最小二乘算法，分离出各直线运动轴整体运动误差，用于机构联动误差补偿。
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公开(公告)号：CN103148826B
公开(公告)日：2015-08-19
申请号：CN201310057693.3
申请日：2013-02-22
Applicant: 厦门大学
Abstract: 一种可旋转的大口径光学元件夹具，涉及一种检测平台用夹具。设X轴与Y轴进给部分和倾斜可调机构；X轴进给部分设夹具底座、手轮、丝杠、滚动直线导轨和滑块；Y轴进给部分设Y轴进给底座、Y轴进给块和千分尺；倾斜可调机构设旋转体、底座、弹簧、楔形块、支撑架、夹具顶层、夹紧件、双向蜗杆和小手轮。可沿X轴，Y轴进给，并绕Y轴实现一定角度旋转，倾斜可调机构灵活度大。用以定位、夹紧待测光学元件。选用双坐标手轮驱动X方向进给，精度为1μm的千分尺推动Y轴进给。倾斜可调机构采用楔形槽与楔形块配合，并辅以螺钉锁紧，稳度大，螺钉孔开为月牙形。通过手轮驱动丝杠转动，带动Y轴进给底座沿滚动直线导轨实现X轴进给。
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公开(公告)号：CN103148826A
公开(公告)日：2013-06-12
申请号：CN201310057693.3
申请日：2013-02-22
Applicant: 厦门大学
Abstract: 一种可旋转的大口径光学元件夹具，涉及一种检测平台用夹具。设X轴与Y轴进给部分和倾斜可调机构；X轴进给部分设夹具底座、手轮、丝杠、滚动直线导轨和滑块；Y轴进给部分设Y轴进给底座、Y轴进给块和千分尺；倾斜可调机构设旋转体、底座、弹簧、楔形块、支撑架、夹具顶层、夹紧件、双向蜗杆和小手轮。可沿X轴，Y轴进给，并绕Y轴实现一定角度旋转，倾斜可调机构灵活度大。用以定位、夹紧待测光学元件。选用双坐标手轮驱动X方向进给，精度为1μm的千分尺推动Y轴进给。倾斜可调机构采用楔形槽与楔形块配合，并辅以螺钉锁紧，稳度大，螺钉孔开为月牙形。通过手轮驱动丝杠转动，带动Y轴进给底座沿滚动直线导轨实现X轴进给。
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公开(公告)号：CN103822605B
公开(公告)日：2017-06-23
申请号：CN201410098960.6
申请日：2014-03-18
Applicant: 厦门大学
IPC: G01B21/20
Abstract: 大口径光学元件轮廓的一次拼接测量装置，涉及一种光学元件轮廓的测量装置。设有Y轴直线电机、Y轴直线导轨、底座、运动控制器、立柱、横梁、测量传感器、直线运动丝杆螺母副、联轴器、测头运动驱动电机、Z轴直线导轨、Z轴直线电机、测头连接座、Z轴工作台、X轴工作台、X轴直线导轨、X轴直线电机、工件、工件回转台、连接座、旋转电机、Y轴工作台和计算机。可实现一次拼接测量，特别针对大口径工件减少了测量步骤，测量过程简单，测量效率高，结构简单紧凑，操作方便。
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公开(公告)号：CN103822605A
公开(公告)日：2014-05-28
申请号：CN201410098960.6
申请日：2014-03-18
Applicant: 厦门大学
IPC: G01B21/20
Abstract: 大口径光学元件轮廓的一次拼接测量装置，涉及一种光学元件轮廓的测量装置。设有Y轴直线电机、Y轴直线导轨、底座、运动控制器、立柱、横梁、测量传感器、直线运动丝杆螺母副、联轴器、测头运动驱动电机、Z轴直线导轨、Z轴直线电机、测头连接座、Z轴工作台、X轴工作台、X轴直线导轨、X轴直线电机、工件、工件回转台、连接座、旋转电机、Y轴工作台和计算机。可实现一次拼接测量，特别针对大口径工件减少了测量步骤，测量过程简单，测量效率高，结构简单紧凑，操作方便。
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