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公开(公告)号：CN118464918A
公开(公告)日：2024-08-09
申请号：CN202410583297.2
申请日：2024-05-11
Applicant: 厦门大学
Abstract: 本发明公开了一种待测物体表面成像系统、待测物体表面成像方法和待测物体表面缺陷检测方法，待测物体表面成像系统用于成像待测物体表面，包括面光源、半透半反镜、线结构光源、第一反射镜、反射组件和成像装置，成像装置的感光元件设有第一成像区域和第二成像区域，第一成像区域适于接收面光源照射待测物体所形成的图像，第二成像区域适于接收线结构光源照射待测物体所形成的图像。在同一图像的不同区域同时形成了含有表面信息的图像和含有三维信息的图像，两图像之间具有对应关系，有利于提高检测准确率和效率。基于此成像系统采取的待测物体表面成像方法及待测物体表面缺陷检测方法，进一步提高产品缺陷检测的准确率和效率。
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