一种激光光纤准直聚焦的同轴观测质谱离子源光学系统

    公开(公告)号:CN118330013A

    公开(公告)日:2024-07-12

    申请号:CN202410365849.2

    申请日:2024-03-28

    Applicant: 厦门大学

    Abstract: 本发明提供了一种激光光纤准直聚焦的同轴观测质谱离子源光学系统,包括激光器、光纤、样品腔,光纤耦合模块,所述光纤耦合模块沿着所述激光器发射激光的方向同轴水平设置将所述激光器发射的激光耦合进入所述光纤后输出,所述光纤位于样品腔一侧并与样品腔所在水平面错开;沿着所述样品腔的竖直方向依次设置光纤准直聚焦模块和同轴照明观测模块,所述光纤准直聚焦模块改变光纤耦合输出的激光方向并将其准直聚焦至样品,所述同轴照明观测模块与所述样品腔及光纤准直聚焦模块同轴对所述样品照明与成像;所述样品腔内设位移控制模块,所述位移控制模块以及所述激光器与控制系统电性连接带动样品移动,所述控制系统控制激光器的激光发射参数。

    一种快速成像质谱仪
    2.
    发明授权

    公开(公告)号:CN109860014B

    公开(公告)日:2021-05-14

    申请号:CN201910085734.7

    申请日:2019-01-29

    Applicant: 厦门大学

    Abstract: 一种快速成像质谱仪,属于质谱分析领域,包括激光器、光学聚焦透镜组、多维移动平台、离子光学透镜、飞行时间质量分析器和位敏检测器;所述多维移动平台、离子光学透镜、飞行时间质量分析器和位敏检测器依次设置在真空腔体内,所述激光器设于多维移动平台和离子光学透镜之间的右上方或左上方,所述光学聚焦透镜组设于激光器的下方;本发明结构简单,可节省质谱成像时间,即使用一次激光照射,实现被解吸电离各成分的二维分布成像;通过多次激光照射或辅助以其它表面剥蚀方法,可实现各成分的三维空间分布。

    一种快速成像质谱仪
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN109860014A

    公开(公告)日:2019-06-07

    申请号:CN201910085734.7

    申请日:2019-01-29

    Applicant: 厦门大学

    Abstract: 一种快速成像质谱仪,属于质谱分析领域,包括激光器、光学聚焦透镜组、多维移动平台、离子光学透镜、飞行时间质量分析器和位敏检测器;所述多维移动平台、离子光学透镜、飞行时间质量分析器和位敏检测器依次设置在真空腔体内,所述激光器设于多维移动平台和离子光学透镜之间的右上方或左上方,所述光学聚焦透镜组设于激光器的下方;本发明结构简单,可节省质谱成像时间,即使用一次激光照射,实现被解吸电离各成分的二维分布成像;通过多次激光照射或辅助以其它表面剥蚀方法,可实现各成分的三维空间分布。

    一种提高激光电离质谱深度分辨率的双脉系统和方法

    公开(公告)号:CN119827609A

    公开(公告)日:2025-04-15

    申请号:CN202411990494.2

    申请日:2024-12-31

    Applicant: 厦门大学

    Abstract: 本发明公开了一种提高激光电离质谱深度分辨率的双脉冲系统和方法,涉及质谱仪技术领域,系统包括:控制系统,控制飞秒激光器产生的飞秒激光参数及纳秒激光器的纳秒激光参数;激光能量调控模块,对输入的飞秒激光进行相位调整和探测,并基于飞秒激光参数,输出满足设定参数的飞秒激光;光束整形和光束形貌分析模块,对飞秒激光进行整束并聚焦于样品表面进行激光剥蚀;纳秒激光对剥蚀出的中性粒子进行非共振多光子电离,产生电离离子用于质谱分析。本发明能够提高激光电离质谱的深度分辨率至纳米级,并且在减小采样量的情况下提高离子的电离效率,同时提高仪器的灵敏度和定量分析的准确度。

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