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公开(公告)号:CN101449369B
公开(公告)日:2011-11-23
申请号:CN200780011620.3
申请日:2007-03-28
申请人: 原子能委员会 , S.O.I.泰克绝缘体硅技术公司
IPC分类号: H01L21/762
CPC分类号: H01L21/76254
摘要: 提供一种从衬底制造薄膜的方法,该方法包括以下步骤:(1)在例如由硅制成的衬底中注入例如镓的非气体种类的离子,根据衬底的材料选择注入条件和该种类,以使得能够形成在某层中分布的在某一深度上限定的析出物,这些析出物由熔点低于衬底的熔点的固相制成;(2)任选地使衬底的该表面与刚性体紧密接触;和(3)通过在析出物为液相的条件下由于施加机械和/或化学拆分应力而在析出物的层上使衬底断裂来拆分薄膜。
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公开(公告)号:CN101449369A
公开(公告)日:2009-06-03
申请号:CN200780011620.3
申请日:2007-03-28
申请人: 原子能委员会 , S.O.I.泰克绝缘体硅技术公司
IPC分类号: H01L21/762
CPC分类号: H01L21/76254
摘要: 提供一种从衬底制造薄膜的方法,该方法包括以下步骤:(1)在例如由硅制成的衬底中注入例如镓的非气体种类的离子,根据衬底的材料选择注入条件和该种类,以使得能够形成在某层中分布的在某一深度上限定的析出物,这些析出物由熔点低于衬底的熔点的固相制成;(2)任选地使衬底的该表面与刚性体紧密接触;和(3)通过在析出物为液相的条件下由于施加机械和/或化学拆分应力而在析出物的层上使衬底断裂来拆分薄膜。
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