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公开(公告)号:CN115128169A
公开(公告)日:2022-09-30
申请号:CN202210885204.2
申请日:2022-07-26
Applicant: 南瑞联研半导体有限责任公司
Abstract: 本发明公开了一种用于IGBT模块的非浸入式超声扫描工装,水槽上开设用于容纳介质的槽体,槽体上开设用于卡接IGBT模块的IGBT模块通孔,IGBT模块通孔上设置有密封机构,顶升限位机构设置在槽体上;检测IGBT模块时,先将IGBT模块的底板通过密封机构密封安装在IGBT模块通孔处,顶升限位机构将IGBT模块紧紧抵靠在IGBT模块通孔处,然后向槽体中注入介质。本发明实现了IGBT模块产品超声扫描时无需浸泡在介质中,在水槽中注入介质即可进行超声波扫描成像,然后将介质从排水孔排出,IGBT模块的核心区域不接触介质,本发明很好地保护待检测的IGBT模块产品不受介质污染,同时避免水汽对IGBT模块产品的破坏,以及其他不可预测的隐患。
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公开(公告)号:CN218674858U
公开(公告)日:2023-03-21
申请号:CN202221939065.9
申请日:2022-07-26
Applicant: 南瑞联研半导体有限责任公司
Abstract: 本实用新型公开了一种用于IGBT模块的非浸入式超声扫描工装,水槽上开设用于容纳介质的槽体,槽体上开设用于卡接IGBT模块的IGBT模块通孔,IGBT模块通孔上设置有密封机构,顶升限位机构设置在槽体上;检测IGBT模块时,先将IGBT模块的底板通过密封机构密封安装在IGBT模块通孔处,顶升限位机构将IGBT模块紧紧抵靠在IGBT模块通孔处,然后向槽体中注入介质。本实用新型实现了IGBT模块产品超声扫描时无需浸泡在介质中,在水槽中注入介质即可进行超声波扫描成像,然后将介质从排水孔排出,IGBT模块的核心区域不接触介质,本实用新型很好地保护待检测的IGBT模块产品不受介质污染,同时避免水汽对IGBT模块产品的破坏,以及其他不可预测的隐患。
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