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公开(公告)号：CN107219618A
公开(公告)日：2017-09-29
申请号：CN201710328051.0
申请日：2017-05-11
Applicant: 南开大学
CPC classification number: G02B21/002 , G02B21/0036 , G02B21/0052 , G02B21/006 , G02B21/008 , G02B21/241
Abstract: 本发明涉及扫描成像技术，提供一种激光阵列扫描成像系统，显微成像装置以及信号接收装置，还包括激光阵列产生装置，所述激光阵列产生装置包括接收准直后激光的相位板以及与所述相位板配合聚焦形成激光阵列的第一聚焦透镜，所述显微成像装置包括聚焦激光阵列至样品上的透镜组件以及反射携带样品信息的激光阵列二向色镜，所述信号接收装置包括接收所述二向色镜反射后激光阵列的第二聚焦透镜以及收集所述第二聚焦透镜透射光信号的探测器。本发明中通过利用相位板的激光阵列快速扫描成像技术，因其无损探伤、高分辨率、高成像速度、高性噪比以及三维层析探测的综合优势，在生物快速实时成像，活细胞检测等方面均有重要的应用价值和市场推广潜力。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN106932357B
公开(公告)日：2020-08-11
申请号：CN201710138575.3
申请日：2017-03-09
Applicant: 南开大学
IPC: G01N21/3581
Abstract: 本发明提供的超衍射分辨极限太赫兹光谱成像系统，太赫兹源出射的太赫兹波经准直透镜准直后透过太赫兹相位板，形成太赫兹矢量光场，激光器出射的激光光束经空间光调制器调制后与太赫兹矢量光场同时入射至太赫兹调制器，经太赫兹调制器调制后的太赫兹矢量光场再由反射镜反射进入第一透镜，并经第一透镜聚焦于所述成像样品上，太赫兹矢量光场激发成像样品产生携带样品信息的太赫兹波，携带样品信息的太赫兹波经第二透镜聚集后穿过位于第二透镜焦点处的聚焦针孔，太赫兹信号接收装置探测携带样品信息的太赫兹波信号，再经数据处理装置处理后得到成像样品的超分辨率图像，本发明提供的太赫兹光谱成像系统，能够实现超衍射极限太赫兹光谱显微成像。
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公开(公告)号：CN106932357A
公开(公告)日：2017-07-07
申请号：CN201710138575.3
申请日：2017-03-09
Applicant: 南开大学
IPC: G01N21/3581
Abstract: 本发明提供的超衍射分辨极限太赫兹光谱成像系统，太赫兹源出射的太赫兹波经准直透镜准直后透过太赫兹相位板，形成太赫兹矢量光场，激光器出射的激光光束经空间光调制器调制后与太赫兹矢量光场同时入射至太赫兹调制器，经太赫兹调制器调制后的太赫兹矢量光场再由反射镜反射进入第一透镜，并经第一透镜聚焦于所述成像样品上，太赫兹矢量光场激发成像样品产生携带样品信息的太赫兹波，携带样品信息的太赫兹波经第二透镜聚集后穿过位于第二透镜焦点处的聚焦针孔，太赫兹信号接收装置探测携带样品信息的太赫兹波信号，再经数据处理装置处理后得到成像样品的超分辨率图像，本发明提供的太赫兹光谱成像系统，能够实现超衍射极限太赫兹光谱显微成像。
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公开(公告)号：CN107219618B
公开(公告)日：2023-08-29
申请号：CN201710328051.0
申请日：2017-05-11
Applicant: 南开大学
Abstract: 本发明涉及扫描成像技术，提供一种激光阵列扫描成像系统，显微成像装置以及信号接收装置，还包括激光阵列产生装置，所述激光阵列产生装置包括接收准直后激光的相位板以及与所述相位板配合聚焦形成激光阵列的第一聚焦透镜，所述显微成像装置包括聚焦激光阵列至样品上的透镜组件以及反射携带样品信息的激光阵列二向色镜，所述信号接收装置包括接收所述二向色镜反射后激光阵列的第二聚焦透镜以及收集所述第二聚焦透镜透射光信号的探测器。本发明中通过利用相位板的激光阵列快速扫描成像技术，因其无损探伤、高分辨率、高成像速度、高性噪比以及三维层析探测的综合优势，在生物快速实时成像，活细胞检测等方面均有重要的应用价值和市场推广潜力。
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公开(公告)号：CN108844914B
公开(公告)日：2020-09-11
申请号：CN201810520030.3
申请日：2018-05-28
Applicant: 南开大学
IPC: G01N21/3586
Abstract: 一种基于金属探针的太赫兹超分辨成像装置及成像方法，该技术基于太赫兹波在金属探针上以表面等离激元形式传输至探针针尖处形成远小于太赫兹波长尺寸的太赫兹光斑，在针尖末端近场区域内放置待成像样品，针尖与样品的近场区域内设置垂直度检测模块以及近场距离反馈模块，样品固定于二维电控平移台以在针尖末端进行扫描成像，样品之后放置太赫兹探测器用来探测待成像样品每一个扫描点处透射的太赫兹强度信号，将待成像样品上每一个扫描点处的太赫兹信号强度采集并关联绘图，即可实现样品在太赫兹波段内的超分辨成像，成像分辨率取决于针尖末端尺寸与扫描步进位移，最高分辨率可达纳米量级。
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公开(公告)号：CN108844914A
公开(公告)日：2018-11-20
申请号：CN201810520030.3
申请日：2018-05-28
Applicant: 南开大学
IPC: G01N21/3586
CPC classification number: G01N21/3586
Abstract: 一种基于金属探针的太赫兹超分辨成像装置及成像方法，该技术基于太赫兹波在金属探针上以表面等离激元形式传输至探针针尖处形成远小于太赫兹波长尺寸的太赫兹光斑，在针尖末端近场区域内放置待成像样品，针尖与样品的近场区域内设置垂直度检测模块以及近场距离反馈模块，样品固定于二维电控平移台以在针尖末端进行扫描成像，样品之后放置太赫兹探测器用来探测待成像样品每一个扫描点处透射的太赫兹强度信号，将待成像样品上每一个扫描点处的太赫兹信号强度采集并关联绘图，即可实现样品在太赫兹波段内的超分辨成像，成像分辨率取决于针尖末端尺寸与扫描步进位移，最高分辨率可达纳米量级。
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