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公开(公告)号：CN117606364A
公开(公告)日：2024-02-27
申请号：CN202311632595.8
申请日：2023-12-01
Applicant: 南开大学
Abstract: 本专利介绍了一种光束位移光谱的测量方法。基于超连续谱光源与位移放大技术相结合的微区光位移光谱技术，能够实现光束位移光谱的测量。超连续光谱光源通过射频驱动器调制声光调制器，依次产生不同波长的激光。光束位移光谱的自动扫描测量是使用位置敏感探测器进行数据捕获完成的。该过程是可变波长自动扫描，入射光经格兰泰勒棱镜，二分之一和四分之一波片调整偏振后照射到样品上，发生横向位移与纵向的纵向位移，位移由收集物镜放大，放大后的位移由位置传感器测量。放大因子与只与物镜的倍数及所对应的管透镜的焦距有关，由放大因子即可得出光斑在样品发生的真实位移，放大因子一旦确定就不会改变，因此光束位移光谱测量技术是一种直接光谱测量技术，可以为研究二维和其他纳米材料的性质提供有利的工具集。
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