公开(公告)号：CN119622262A

公开(公告)日：2025-03-14

申请号：CN202411770208.1

申请日：2024-12-04

Applicant: 南京邮电大学

Inventor： 宋雨枢 ,  梁志鹏 ,  蔡九昊 ,  郭静静 ,  蔡志匡

IPC: G06F18/20 ,  G06F18/23213 ,  G06N3/006 ,  G06N5/01 ,  G11C29/12

Abstract: 本发明公开一种基于BPPC算法的芯片内建自测试存储器分组方法，属于计算、推算或计数的技术领域。该方法包括：提取存储器文件信息预处理后并存入存储器信息结构体数组；通过K‑means++算法，根据存储器属性对存储器进行初步聚类；通过距离约束构建存储器之间的约束关系并用冲突矩阵表示；运用顶点着色问题模型将兼容存储器组分解为无距离关系的存储器组，使用FFD方法对无约束关系的存储器组进行一维装箱，使用粒子群算法对分组情况进行优化，将其指派给对应的控制器。将BPPC算法和MBIST测试方法结合，在存储器距离和最大功耗的限制下寻求控制器数量最小的最优解。本发明采用多阶段优化方法和多目标方法，使分组结果更加精准。