一种具有超高存储窗口的晶态TaOx阻变存储器及其制备方法

    公开(公告)号:CN114944453A

    公开(公告)日:2022-08-26

    申请号:CN202210419379.4

    申请日:2022-04-20

    Inventor: 唐佳 胡芳仁 张伟

    Abstract: 一种具有超高存储窗口的晶态TaOx阻变存储器及其制备方法,属于半导体薄膜及其阻变存储器技术领域。主要包括:1)处理(100)取向的单晶Si衬底;2)在衬底上通过磁控溅射法制备(222)取向的ITO底电极;3)在ITO底电极上通过射频反应磁控溅射法生长主晶向(100)、最大晶粒尺寸为30nm的晶态TaOx薄膜作电阻层;4)在电阻层上通过磁控溅射法沉积Ta电极。本发明制备了主晶向(100)、最大晶粒尺寸为30nm的晶态TaOx薄膜,薄膜晶体结构和晶粒尺寸俱佳,生长速度快,薄膜成分可控,以其为电阻层的晶态TaOx阻变存储器表现出超高的存储窗口、很低的操作电压和较强的耐久性,可以为晶态TaOx阻变存储器的商业化和工业化应用提供一定的技术指导。

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