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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN117862679A
公开(公告)日：2024-04-12
申请号：CN202410221483.1
申请日：2024-02-28
Applicant: 南京理工大学
IPC: B23K26/352
Abstract: 本发明属于光测力学领域，具体公开了一种基于飞秒激光表面重构的SEM‑DIC纳米散斑制备方法。SEM‑DIC纳米散斑的制备步骤为：先确定飞秒激光表面重构参数(脉冲宽度≤1ps，脉冲频率为1～1000kHz，脉冲间距为1～10μm，波长为250～1064nm，扫描照射输出功率为1～500mW，偏振为圆偏振，光斑直径为5～50μm，扫描速度为0.1～10mm/s)；然后使用三轴飞秒激光加工系统扫描照射样品，得到纳米散斑。本发明公开的制备方法简单，过程迅速，不会损伤样品，纳米散斑尺寸小而均匀且衬度高，不存在脱落的问题，可以在微尺度样品和曲面上制备散斑。
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公开(公告)号：CN113092506B
公开(公告)日：2023-04-28
申请号：CN202110266694.3
申请日：2021-03-10
Applicant: 南京理工大学
Abstract: 本发明属于材料测试领域，具体为一种可定位薄区位置的透射电镜样品制备装置和方法。包括电化学反应单元，原位观察单元，样品安装单元，抛光定位单元，图像采集单元和控制系统；电化学反应单元采用阴极抛光针对与阳极连接的样品的电解抛光；原位观察单元用于观察样品的侧面和正面，确定并定位阴极抛光针相对样品表面的距离；试样安装单元用于安装样品，并调节样品的位置；抛光定位单元用于调节阴极抛光针相对于样品表面的位置和距离；图像采集单元用于采集样品的实时图像并显示于控制系统。本发明具有在局部电解抛光过程中不会引入离子注入的特点，可以实现对于需要抛光区域进行精准定位等优点，为微尺度样品的结构表征提供新的样品制备方法。
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公开(公告)号：CN109668765B
公开(公告)日：2021-11-09
申请号：CN201910048616.9
申请日：2019-01-18
Applicant: 南京理工大学
Abstract: 本发明为一种基于飞秒激光加工的多取向介观拉伸样品制备方法。该方法利用线切割设备切下所需样品薄片，利用抛光砂纸对薄片进行机械减薄，把减薄后薄片清洗干净，放入飞秒激光加工系统的操作台，按照需求调整加工参数，设定拉伸样品的几何形状，进行激光加工，加工完成后利用除尘器去除样品表面的离子沉淀且使用溶液清洗干净，清洗后对样品进行电解抛光，获得多取向介观拉伸样品。本发明的制备方法对比现有的制样方法不仅速度快，成本低，而且能满足对尺寸较小材料多取向做微观拉伸测试的需求。
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公开(公告)号：CN113092506A
公开(公告)日：2021-07-09
申请号：CN202110266694.3
申请日：2021-03-10
Applicant: 南京理工大学
Abstract: 本发明属于材料测试领域，具体为一种可定位薄区位置的透射电镜样品制备装置和方法。包括电化学反应单元，原位观察单元，样品安装单元，抛光定位单元，图像采集单元和控制系统；电化学反应单元采用阴极抛光针对与阳极连接的样品的电解抛光；原位观察单元用于观察样品的侧面和正面，确定并定位阴极抛光针相对样品表面的距离；试样安装单元用于安装样品，并调节样品的位置；抛光定位单元用于调节阴极抛光针相对于样品表面的位置和距离；图像采集单元用于采集样品的实时图像并显示于控制系统。本发明具有在局部电解抛光过程中不会引入离子注入的特点，可以实现对于需要抛光区域进行精准定位等优点，为微尺度样品的结构表征提供新的样品制备方法。
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公开(公告)号：CN109668765A
公开(公告)日：2019-04-23
申请号：CN201910048616.9
申请日：2019-01-18
Applicant: 南京理工大学
Abstract: 本发明为一种基于飞秒激光加工的多取向介观拉伸样品制备方法。该方法利用线切割设备切下所需样品薄片，利用抛光砂纸对薄片进行机械减薄，把减薄后薄片清洗干净，放入飞秒激光加工系统的操作台，按照需求调整加工参数，设定拉伸样品的几何形状，进行激光加工，加工完成后利用除尘器去除样品表面的离子沉淀且使用溶液清洗干净，清洗后对样品进行电解抛光，获得多取向介观拉伸样品。本发明的制备方法对比现有的制样方法不仅速度快，成本低，而且能满足对尺寸较小材料多取向做微观拉伸测试的需求。
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