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公开(公告)号：CN116183179A
公开(公告)日：2023-05-30
申请号：CN202310189122.9
申请日：2023-03-01
Applicant: 南京理工大学
Abstract: 本发明公开了一种分焦平面偏振图像传感器偏振性能的测试系统及方法，所述方法包括驱动偏振图像传感器进行成像，在无光条件下多次采集图像数据，在光功率恒定的光源照明下、旋转布儒斯特起偏器并在每一个旋转角度下多次采集图像数据，接着在均值化处理后选定所采集图像中间的目标像素区域、根据最小二乘准则可由所测数据计算得到偏振调制参数，最后根据偏振调制参数得到偏振主轴偏移量和偏振效率。本发明考虑到了暗信号对测试结果的影响，并用偏振调制参数、偏振主轴偏移量、偏振效率三个参数表征偏振性能，测试结果精度高，且测试系统模块化的设计适用于多种分焦平面偏振图像传感器。
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