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发明公开
一种薄膜材料单轴拉伸徐变试验高低温阵列加载及测试装置审中-实审

公开(公告)号：CN118518500A

公开(公告)日：2024-08-20

申请号：CN202410590198.7

申请日：2024-05-13

申请人： 南京理工大学

发明人： 陈建稳 , 刘祥伟 , 赵兵 , 陈务军 , 胡宇航 , 卢超钰

IPC分类号： G01N3/18 , G01N3/02 , G01N3/06

摘要： 本发明公开了一种适用于薄膜材料单轴拉伸徐变试验高低温阵列加载及测试装置，包括：隔热有机透明玻璃试验舱；框架结构，用于吊装薄膜材料试件；吊篮配重物，用于为薄膜材料试件提供加载力；支撑平台，用于支撑多个吊篮配重物；同步升降机构，用于带动支撑平台保持水平升降，完成多个薄膜材料试件的同步加载；散斑贴膜，设置在薄膜材料试件的膜面中间区域；图像采集模块，用于采集薄膜材料试件经徐变后的膜面图像数据；计算机终端模块，用于对膜面图像数据进行处理，以未加载前的初始图片作为标定图片，识别图像中的散斑特征点，并通过比较图像数据中的散斑特征点在变形前后的位置，计算膜面处的应变。本发明可保证测试精度的同时提高测试效率。