非制冷型红外探测器成像及热时间常数测试系统及方法

    公开(公告)号:CN116539160A

    公开(公告)日:2023-08-04

    申请号:CN202310188023.9

    申请日:2023-03-02

    Inventor: 何伟基 田伟昊

    Abstract: 本发明提出了一种非制冷型红外探测器成像及热时间常数测试系统及方法,系统包括:机箱、FPGA板卡、电源板卡模块、非制冷红外探测器、斩波器、面源辐射黑体;所述FPGA板卡以及电源模块设置在机箱内;所述斩波器设置在探测器与面源辐射黑体之间,且面源辐射黑体、斩波器以及探测器中心位于同一水平线,所述斩波器用于产生不同频率下的的信号,面源辐射黑体用于为探测器提供光源;所述FPGA板卡与非制冷红外探测器连接,用于产生探测器驱动信号以及接收探测器采集的图像数据;所述上位机对采集的图像数据进行处理,获得热时间常数。本发明在采集图像时,运用两个独立的fifo对于奇数行偶数行进行缓存,并直接按行输出,可以不需要另外板载缓存,节约了资源。

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