公开(公告)号：CN111157225A

公开(公告)日：2020-05-15

申请号：CN201910771797.8

申请日：2019-08-21

Applicant: 南京理工大学

Inventor： 何伟基 ,  许航 ,  陈钱 ,  张闻文 ,  顾国华 ,  陈远金 ,  戴放 ,  邹燕

IPC: G01M11/02

Abstract: 本发明公开的一种基于Labview的EMCCD芯片全性能参数测试方法，该方法的测试系统由光强连续可调积分球光源、微光照度计、光栅单色仪、暗箱、电子控制箱和NI专业工控机组成，基于Labview平台将测试系统各组件控制、测试环境信息记录、性能参数算法计算结合在一起，完成盲元率、电荷-电压转换因子、电荷转移效率、量子效率、光谱响应率、探测灵敏度、动态范围、读出噪声、满阱电荷、暗信号、暗信号非均匀性、光子响应非均匀性、增益倍数、噪声因子、倍增等效读出噪声共15项参数的测试，不仅能完整评估EMCCD芯片的测试性能，而且大大缩短了测试时间、降低了测试人员对EMCCD基础知识的要求；测试结果准确可靠、测试过程方便快捷、测试人员负担很小。