一种可搭载纳米针尖试样并能自主旋转360°的TEM三维重构样品杆

    公开(公告)号:CN114300327B

    公开(公告)日:2024-07-09

    申请号:CN202111557559.0

    申请日:2021-12-19

    Abstract: 本发明为一种可搭载纳米针尖试样并能自主旋转360°的TEM三维重构样品杆。样品杆具体包括样品杆主体、纳米针尖试样夹持装置、360°旋转操控装置和触摸屏控制系统。本发明优化了纳米针尖试样的夹持方式,保证了纳米针尖试样与样品杆的高同轴度;在伺服电机控制下的样品自转完全避免了传统TEM样品杆倾转角受电镜测角台限制的缺点,同时大大降低了样品杆在倾转过程中触碰极靴的危险性。360°旋转样品收集数据完全消除了电子断层扫描过程中的信息缺失问题,极大地提高了透射电镜三维重构的分辨极限。

    一种可搭载纳米针尖试样并能自主旋转360°的TEM三维重构样品杆

    公开(公告)号:CN114300327A

    公开(公告)日:2022-04-08

    申请号:CN202111557559.0

    申请日:2021-12-19

    Abstract: 本发明为一种可搭载纳米针尖试样并能自主旋转360°的TEM三维重构样品杆。样品杆具体包括样品杆主体、纳米针尖试样夹持装置、360°旋转操控装置和触摸屏控制系统。本发明优化了纳米针尖试样的夹持方式,保证了纳米针尖试样与样品杆的高同轴度;在伺服电机控制下的样品自转完全避免了传统TEM样品杆倾转角受电镜测角台限制的缺点,同时大大降低了样品杆在倾转过程中触碰极靴的危险性。360°旋转样品收集数据完全消除了电子断层扫描过程中的信息缺失问题,极大地提高了透射电镜三维重构的分辨极限。

Patent Agency Ranking