检测555集成电路逻辑电平的装置及方法

    公开(公告)号:CN101702007A

    公开(公告)日:2010-05-05

    申请号:CN200910232700.2

    申请日:2009-12-04

    Abstract: 本发明涉及检测555集成电路逻辑电平的装置及检测方法。本发明是系统初始化后单片机经D/A转换器、电压跟随器控制输出模拟电压且每输出一个控制电压增量时检测555集成电路输出是否转化为低电平并记录单片机输出的控制电压,输出由高向低变化的模拟电压时是否转化为高电平时,记录单片机输出的控制电压,检测结束。本发明解决了555集成电路输出电平存在差异的缺陷。本发明测量过程由单片机自动完成,由于没有人为的因素参与测量,所以,测量误差小,工作稳定可靠,工作效率高,保证使用的555集成电路输出电平没有差异性并符合使用要求。

    检测555集成电路逻辑电平的装置

    公开(公告)号:CN201562040U

    公开(公告)日:2010-08-25

    申请号:CN200920284297.3

    申请日:2009-12-04

    Abstract: 本实用新型涉及检测555集成电路逻辑电平的装置及检测方法。本实用新型由单片机、D/A转换器、电压跟随器组成;单片机输出端接D/A转换器,D/A转换器输出端接电压跟随器,电压跟随器的输出端接被测555集成电路,555集成电路输出端输入到单片机。本实用新型解决了555集成电路输出电平存在差异的缺陷。本实用新型测量过程由单片机自动完成,由于没有人为的因素参与测量,所以,测量误差小,工作稳定可靠,工作效率高,保证使用的555集成电路输出电平没有差异性并符合使用要求。

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