一种终端测试系统
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN117388586B

    公开(公告)日:2024-04-26

    申请号:CN202311699909.6

    申请日:2023-12-12

    Abstract: 本申请涉及测试技术领域,尤其涉及一种终端测试系统,包括:测试暗室内设置有用于放置并带动待测终端转动的承接转台;测试支架呈匚型设置在测试暗室的内部;信号检测装置,与测试支架滑动连接,用于检测待测终端辐射的球体信号;在信号检测过程中,信号检测装置能够沿测试支架滑动,且承接转台带动待测终端转动,以使信号检测装置的有效信号采集区域能够覆盖待测终端的球体信号的辐射球面区域;本申请中通过测试暗室内部设置匚型测试支架,信号检测装置能够沿匚型测试支架滑动,进而在承接转台带动待测终端转动,进而在保证了测试结果的准确性的同时可以提高测试暗室的空间利用率,从而可以降低测试暗室的空间尺寸,以及降低终端测试系统的成本。

    一种暗室测试系统
    2.
    发明授权

    公开(公告)号:CN117388585B

    公开(公告)日:2024-04-26

    申请号:CN202311699906.2

    申请日:2023-12-12

    Abstract: 本申请涉及暗室测试技术领域,具体是一种暗室测试系统,包括:暗室;用于放置待测件的放置台,放置台设置在暗室的底面;检测机构包括第一检测组件和设置在第一检测组件上的补偿机构,第一检测组件设置在暗室的底面,第一检测组件的第一端靠近暗室的第一侧棱设置,第一检测组件的第二端靠近放置台设置,第一检测组件的布置方向与放置台的侧面间隔或抵接设置;第一检测组件能够带动补偿机构在第一侧棱和待测件之间移动;本申请降低第一检测组件的安装难度;同时补偿机构能够采集待测件位于第一侧棱与待测件间的电磁信号,实现检测机构采集完整的待测件周围的电磁信号,进而保证测试结果的准确性。

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