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公开(公告)号：CN106855521B
公开(公告)日：2023-07-14
申请号：CN201710126822.8
申请日：2017-03-06
Applicant: 南京市计量监督检测院
Abstract: 本发明公开了一种铁轨轨腰表面裂纹微形变检测装置及检测方法，包括宽带光源、第一耦合器、参考臂、第一样品臂、第二样品臂、第一信号采集电路和第二信号采集电路；宽带光源的光经过第一耦合器后分成参考光和信号光，参考光经过第一环形器后到达压电陶瓷，经过压电陶瓷表面反射后返回第一环形器出射，由第二耦合器分成两路出射参考光后分别进入到第一信号采集电路和第二信号采集电路；信号光经过第三耦合器后分成两路信号光，两路信号光分别经过对应的第一样品臂、第二样品臂后到达铁轨轨腰表面，经过铁轨轨腰表面反射后返回到出射，两路出射信号光进入到第一信号采集电路和第二信号采集电路。本发明采用非接触光学低相干缺陷检测方法，实现长距离快速定位检测。
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公开(公告)号：CN106855521A
公开(公告)日：2017-06-16
申请号：CN201710126822.8
申请日：2017-03-06
Applicant: 南京市计量监督检测院
CPC classification number: G01N21/88 , G01B11/161 , G01N21/45 , G01N2021/458 , G01N2201/082 , G01N2201/088
Abstract: 本发明公开了一种铁轨轨腰表面裂纹微形变检测装置及检测方法，包括宽带光源、第一耦合器、参考臂、第一样品臂、第二样品臂、第一信号采集电路和第二信号采集电路；宽带光源的光经过第一耦合器后分成参考光和信号光，参考光经过第一环形器后到达压电陶瓷，经过压电陶瓷表面反射后返回第一环形器出射，由第二耦合器分成两路出射参考光后分别进入到第一信号采集电路和第二信号采集电路；信号光经过第三耦合器后分成两路信号光，两路信号光分别经过对应的第一样品臂、第二样品臂后到达铁轨轨腰表面，经过铁轨轨腰表面反射后返回到出射，两路出射信号光进入到第一信号采集电路和第二信号采集电路。本发明采用非接触光学低相干缺陷检测方法，实现长距离快速定位检测。
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公开(公告)号：CN206671211U
公开(公告)日：2017-11-24
申请号：CN201720206987.1
申请日：2017-03-06
Applicant: 南京市计量监督检测院
Abstract: 本实用新型公开了一种铁轨轨腰表面裂纹微形变检测装置及检测方法，包括宽带光源、第一耦合器、参考臂、第一样品臂、第二样品臂、第一信号采集电路和第二信号采集电路；宽带光源的光经过第一耦合器后分成参考光和信号光，参考光经过第一环形器后到达压电陶瓷，经过压电陶瓷表面反射后返回第一环形器出射，由第二耦合器分成两路出射参考光后分别进入到第一信号采集电路和第二信号采集电路；信号光经过第三耦合器后分成两路信号光，两路信号光分别经过对应的第一样品臂、第二样品臂后到达铁轨轨腰表面，经过铁轨轨腰表面反射后返回到出射，两路出射信号光进入到第一信号采集电路和第二信号采集电路。本实用新型采用非接触光学低相干缺陷检测方法，实现长距离快速定位检测。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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