一种宽筛分颗粒主要粒径尺寸的非均匀声场测试方法

    公开(公告)号:CN112461719B

    公开(公告)日:2022-11-18

    申请号:CN202011297519.2

    申请日:2020-11-19

    Abstract: 本发明公开了一种宽筛分颗粒主要粒径尺寸的非均匀声场测试方法,其特征在于将粒径尺寸不同的宽筛分颗粒放入非均匀声场中,颗粒在某个频率和声压强度的非均匀声场中悬浮、迁移、聚散、团聚、沉降,形成多条颗粒团条纹,用相机或带有显微镜功能的相机拍摄颗粒团条纹,统计、测量、计算出多个相邻颗粒团条纹的间距,并结合颗粒物性和声场参数,计算出颗粒直径;根据试验数据是否落在多条粒径‑条纹间距‑频率变化曲线上,筛选试验数据;根据粒径数值近似但频率和试验条纹间距不同,筛选出宽筛分颗粒的主要粒径尺寸。该宽筛分颗粒主要粒径尺寸测试方法,对于纳米、微米、毫米等尺寸小于声场波长的各种颗粒都具有非常高的测量精度。

    一种宽筛分颗粒主要粒径尺寸的非均匀声场测试方法

    公开(公告)号:CN112461719A

    公开(公告)日:2021-03-09

    申请号:CN202011297519.2

    申请日:2020-11-19

    Abstract: 本发明公开了一种宽筛分颗粒主要粒径尺寸的非均匀声场测试方法,其特征在于将粒径尺寸不同的宽筛分颗粒放入非均匀声场中,颗粒在某个频率和声压强度的非均匀声场中悬浮、迁移、聚散、团聚、沉降,形成多条颗粒团条纹,用相机或带有显微镜功能的相机拍摄颗粒团条纹,统计、测量、计算出多个相邻颗粒团条纹的间距,并结合颗粒物性和声场参数,计算出颗粒直径;根据试验数据是否落在多条粒径‑条纹间距‑频率变化曲线上,筛选试验数据;根据粒径数值近似但频率和试验条纹间距不同,筛选出宽筛分颗粒的主要粒径尺寸。该宽筛分颗粒主要粒径尺寸测试方法,对于纳米、微米、毫米等尺寸小于声场波长的各种颗粒都具有非常高的测量精度。

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